建構半導體整廠績效指標層級架構與指標管制

Construction of Semiconductor Overall Fab Performance Index Hierarchy Structure and Index control

林國義

指導教授 ： 簡禎富

國立清華大學/工學院/工業工程與工程管理學系/碩士(2009年)

摘要

半導體製程技術是半導體公司競爭力的來源，而製程技術必須與製程管理相輔相成，才能發揮企業優勢以提昇企業競爭力，此外半導體製造系統複雜，管理在生產過程中更是不可或缺，隨著製程的改進與電腦輔助系統的進步，管理者可以藉由績效指標來協助決策，以客觀、有效的衡量目前的生產情況，並優化現況、規劃願景，利用建構指標層級架構有組織的了解指標之間的關係，提供資訊給決策者作為評估績效、製程管制與監控時的參考根據，隨著全球產業競爭越來越激烈，製程管理考量的層面必須越來越廣以解決更大的問題，然而少有文獻同時探討財務指標與現場指標之關係，並同時以這兩種指標作為管理與評估的標準，因此本研究以財務指標為目標，探討其與現場指標之關係以建構指標層級架構，串連財務與現場指標架構其影響關係，使財務指標能由上而下解構成現場指標，而現場指標能由下而上整合而影響財務指標，讓決策者可以了解其因果關係以綜觀全局，針對企業可能會遇到的狀況，例如景氣、價格波動等等，利用龍捲風圖進行多個單因子的敏感度分析，探討在不同的情況下需重視的指標及提出指標管制建議，最後所得的各階段結果建議，亦可以預先知道改善該指標對於目標的影響，使管理者在瞬息萬變的產業情況下仍然能持續追求企業目標、提昇競爭力。

關鍵字

績效管理 ； 半導體製造產業 ； 決策分析

並列摘要

無資料

並列關鍵字

Performance management ； Semiconductor industry ； Decision Analysis

參考文獻

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