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期刊
The Improvement of Reliability of High-k/Metal Gate pMOSFET Device with Various PMA Conditions
Yi-Lin Yang
;
Wen-Qi Zhang
;
Chi-Yun Cheng
;
Wen-Kuan Yeh
《Active and Passive Electronic Components》
2012卷
(2012/12)
Pp. 203-206
https://doi.org/10.1155/2012/872494
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