來自不同樣品深度的電子訊號源對PEEM影像訊號分佈之影響

The evolution of electron emission profile as a function of sampling depth in X-ray based PEEM imaging

黃燕(Huang, Yen.)

指導教授 ： 魏德新 ； 林登松

國立清華大學/原子科學院/先進光源科技學位學程/碩士(2018年)

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關鍵字

X光激發電子顯微術 ； 影像解析度 ； 數值模擬

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X-ray photoemission electron microscope(PEEM) ； image resolution ； numerical simulation

參考文獻

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