基於 Zedboard 可程式邏輯閘 陣列的晶片測試系統

Zedboard FPGA Based Chip Testing System

温戴興(Tai-Hsing Wen)

指導教授 ： 呂仁碩

國立清華大學/電機資訊學院/電機工程學系所/碩士(2020年)

摘要

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關鍵字

晶片測試系統 ； 可程式邏輯閘陣列 ； 感應器內運算 ； 記憶體內運算

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並列關鍵字

chip testing system ； FPGA ； compute in sensor ； compute in memory

參考文獻

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