異方性導電膜之導電粒子破裂變形狀況之自動量測

An Automatic Measurement System for the Fracture Conditions of Anisotropic Conductive Film

黃國紘(Kuo-Hon Huang) ； 林宸生(Chern-Sheng Lin) ； 吳國彰(Kuo-Chun Wu) ； 吳穎強(Yieng-Chiang Wu) ； 林志敏(Jim-Min Lin)

《先進工程學刊》 2卷1期 (2007/01) Pp. 17-19

https://doi.org/10.29948/JAE.200701.0003

摘要

本文提出TFT-LCD組合製程中之異方性導電膜之導電粒子破裂變形狀況自動化光學量測，運用機器視覺，針對導電粒子，進行圖形追蹤、定位、檢測及破裂變形狀況等相關製程量測工作。在對圖形進行運算處理前，會先經過特定的前處理轉換，再取適當的樣本，做比對計數，對於背景複雜的圖形，有不錯的效果，即處理後的粒子圖形與背景會有較佳的對比度。

關鍵字

異方性導電膜 ； 破裂 ； 自動化光學量測

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In this paper an automatic optical measurement system for the fracture conditions of anisotropic conductive film(ACF) is presented. On the process of searching, analyzing, and recognizing of ACF-LCD images, the measurements include the quality verification and quantity calculation of ACF. We used different methods to determine the fracture factors and the ACF area for each type. The improving method of the template matching, and largely decreasing the time of checking the image for pattern matching was verified in the experimental results of this imaging system.

並列關鍵字

anisotropic conductive film ； fracture ； automatic optical measurement system