光激發螢光量測的原理、架構及應用

Photoluminescence: Principles, Structure, and Applications

謝嘉民(Jia-Min Shieh) ； 賴一凡(Yi-Fan Lai) ； 林永昌(Yong-Chang Lin) ； 枋志堯(Jr-Yau Fang)

《科儀新知》 146期 (2005/06) Pp. 39-51

https://doi.org/10.29662/IT.200506.0005

摘要

光激螢光分析可快速又可靠的得到材料中之能階結構以及載子躍遷行為，是一個有力又無破壞的分析技術。藉由分析光激發螢光資料，可以由光譜中的特徵得知材料的摻雜雜質種類、能隙大小、化合物中的組成成分，或是奈米材料中之奈米量子點的尺寸、載子傳輸路徑與生命週期等重要訊息，同時可以光激發螢光結果作為材料結構、成分與品質的判斷依據，為奈米材料發展上之一關鍵量測技術。本文著重於光激螢光分析之原理、設備架構以及螢光激發光譜、共焦顯微影像與顯微光激螢光譜、時間解析光譜測量等應用之介紹。

並列摘要

Photoluminescence, a powerful and break-less analysis technology, can reveal the band structure and the carrier transportation behaviors in a material. Moreover, the doping type, band gap, composition, etc. of the bulk material or the size, path of carrier transportation, lifetime, etc. of the nano-material will be shown in the photoluminescence spectrum. So the photoluminescence could be a judgment of the material quality and be a key technology of the development of nanotechnology. This paper emphasized to introduce the principles, structure, and applications of the photoluminescence, photoluminescence excitation, confocal image with micro-PL, and timeresolved photoluminescence systems.