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邁向智慧環境AIoT時代的利器－晶圓級氣體感測器高效能點測系統
High-throughput Wafer-level Probing System for Micro Gas Sensors, the Innovative Driver of AIoT Intelligent Environment
摘要
世界首創「晶圓級氣體感測器高效能點測系統」，於晶圓階段即可測試氣體感測器（感測晶片）效能，且可同時測試多顆，不但大幅縮短檢測時間，且可提早於封裝前即查知每顆晶片的品質與分級，大幅降低封裝資源浪費；另外亦可回饋測試結果，據以改善製程，提高生產效能與品質。
關鍵字
無資料延伸閱讀
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