延伸閱讀
- 黃英碩、胡恩德、黃光裕、張嘉升、廖先順、王偉珉、陳彥宏、陳敬修、鄭仲翔、黃宣富（2014）。像散式光學偵測系統：奈米量測新利器。科儀新知，(200)，46-65。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=10195440-201409-201409240007-201409240007-46-65
- 林威志（2005）。奈米超分辨近場記錄之光學研究〔博士論文，國立臺灣大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6342/NTU.2005.00555
- 鄭天佑（2013）。散射式近場光學顯微鏡對奈米金粒子陣列之研究〔博士論文，國立臺灣大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6342/NTU.2013.00537
- 林昆霖（2013）。肉眼看不見的奈米級材料及元件檢測分析就靠穿透式電子顯微鏡。國家奈米元件實驗室奈米通訊，20(2)，34-38。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=1029502x-201306-201308140015-201308140015-34-38
- 李伸家（2007）。掃描式電子顯微鏡內部的奈米加工與測試技術研究〔碩士論文，中原大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6840/cycu200700682