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  • 期刊

系統級封裝(SIP)在SMT迴銲製程孔洞缺陷之研究

摘要


近年來,由於環保意識抬頭,在2003年2月,歐盟所通過的危害性物質限制指令(Restriction of Hazardous Substances Directive,縮寫RoHS)定於2006年7月1日生效,其主要是規範所有銷往歐盟之電子產品均不得含有重金屬鉛之材料。因此,傳統生產過程中所有使用鉛的材料,將被現在的無鉛技術-錫、銀和銅的合成物所取代。在業界,錫球接點常用之無鉛銲錫材料為錫-銀-銅合金系列(SAC family),由於其高熔點之特性,在迴銲製程中(Reflow Process),容易因為較高的溫度,讓無鉛銲錫材料體積快速收縮再加上助銲劑的揮發,使得空氣來不及逸出而產生孔洞(Void)缺陷。進而造成在可靠度測試時,因極小的應力引起產品失效。本研究係針對SiP(System in Package)產品在SMT(Surface Mount Technology)迴銲製程後所產生的孔洞缺陷之原因做探討。研究結果顯示在材料方面,若錫膏採用組成顆粒較小的type4,以及鋼板開法為內縮至90%,可有效降低孔洞缺陷比例。

被引用紀錄


林書睿(2018)。含隨機缺陷電廠結構與設備元件之數值模擬與力學分析〔博士論文,國立臺灣大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6342/NTU201800430
王昭富(2016)。台商因應中國大陸最低工資持續調漲衝擊之研究-以SMT產業為例〔碩士論文,逢甲大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6341/fcu.M0358775

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