可分辨電源雜訊大小的自行檢驗偵測電路

本論文提出了一在0.18um製程、工作電壓為1.8V、週期為3ns架構下之可分辨電源雜訊大小的自行檢驗偵測電路。當電源有雜訊產生時，不但會自行偵測雜訊，而且還會判斷雜訊大小並計數雜訊發生次數。本論文改良自行檢驗偵測電路[1-4]，導入源極隨耦器(Source Follower, SF)[5-6]之概念，將V(下標 DD)經過數個獨立SF電路降低門檻電壓，即可有效偵測及判斷雜訊之大小。本論文利用SR正反器來取代[1]栓鎖電路，即可連續偵測雜訊。透過同步控制器與平移電路[7]，可避免偵測電路輸出不同步而造成雜訊分類錯誤。此一改良式電路，能夠有效分辨雜訊大小並計數雜訊發生次數，且透過SF將PSN[8-9]偵測範圍由大於30%V(下標 DD)，提升至大於10%V(下標 DD)。