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期刊
Modelling of Atomic Imaging and Evaporation in the Field Ion Microscope
Keith J. Fraser
;
John J. Boland
《Journal of Sensors》
2012卷
(2012/12)
Pp. 483-490
https://doi.org/10.1155/2012/961239
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延伸閱讀
梁國贊(2009)。
Design and Development of a Holographic Atomic Force Microscope
〔碩士論文,國立臺灣大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6342/NTU.2009.00410
白家瑞(2011)。
Study of Pt and Pd covered Single-atom tips with field ion microscopy
〔碩士論文,國立臺灣師範大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0021-1610201315232590
邱紹博(2017)。
Design and Development of Tip-scanning Atomic ForceMicroscope based on an Astigmatic Detection System
〔碩士論文,國立臺灣大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6342/NTU201701417
林光儀(2021)。
Multiphoton Microscopy to Study the Atomic Edge of 2D Semiconductors
。
化學
,
79
(1),23-32。https://doi.org/10.6623/chem.202103_79(1).010
吳昱逞(2007)。
Analysis of atomic force microscopy scanning an inclined topography and electrostatic force
〔碩士論文,崑山科技大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6828/KSU.2007.00058
國際替代計量
Modelling of Atomic Imaging and Evaporation in the Field Ion Microscope
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