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學位論文
外差Moiré干涉術於三維彩色表面形貌量測之研究
Study on Measurement of Three-Dimensional Color Surface Profile Using Heterodyne Moiré Interferometry
陳冠辰(KUAN-CHEN CHEN)
指導教授 :
陳坤煌
逢甲大學/資電學院/電機工程學系/碩士(2020年)
https://doi.org/10.6341/fcu.M0625662
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表面形貌重建
;
最小平方弦波擬合法
;
光柵自成像
;
Moiré 條紋
;
外差干涉術
並列摘要
無資料
並列關鍵字
Surface profile reconstruction
;
Least-square sine fitting algorithm
;
Talbot effect
;
Projection Moiré method
;
Heterodyne interferometry
延伸閱讀
林文泉(2012)。
二步相移式差分干涉對比顯微術應用於三維形貌高速量測
〔碩士論文,國立清華大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0016-2002201315102547
劉懷仁(2022)。
開發可用於多尺度光學同調斷層顯微術之三維影像重合對位演算法
〔碩士論文,國立臺灣大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6342/NTU202200200
張瀚中(2007)。
三維外形量測之色彩耦合及不平衡校正方法
〔碩士論文,國立臺灣大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6342/NTU.2007.10596
康文譯(2014)。
MEASUREMENT OF SURFACE TOPOGRAPHY OF TRANSPARENT MATERIALS BY DIGITAL PHASE-SHIFTING SHADOW MOIRE METHOD
〔碩士論文,國立清華大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0016-2105201414242340
杜宜亮、陳元方(2011)。
Surface Profile Measurement with Instantaneous Phase-Shifting Interferometry
。
科儀新知
,
(181),61-67。https://doi.org/10.29662/IT.201104.0007
國際替代計量
外差Moiré干涉術於三維彩色表面形貌量測之研究
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