使用貝氏方法建立田口製程能力指標信賴區間與假設檢定之研究

高清貴

指導教授 ： 范書愷

元智大學/工程學院/工業工程與管理學系/碩士(2002年)

摘要

製程能力指標的目的在於說明製程能力與規格界限間的關係，並且描述製程表現的好壞，其中之一的製程能力指標 由Chan、Cheng與Spiring（1988）提出。本研究的目的在於對製程能力指標 進行區間估計與假設檢定。第一部份在建立 的貝氏統計模型（Bayesian statistical model）並使用HPD（highest posterior density）建立 的雙尾信賴區間，與Zimmer、Hubele與Zimmer（2001）的傳統均分雙尾的信賴區間比較。結果顯示，當製程平均值 偏離目標值T時，使用HPD求得的 信賴區間長度小於傳統均分兩尾信賴區間長度。平均而言，隨著不同的樣本數n以及製程平均值 與目標值T的差距，貝氏信賴區間縮小幅度約在0.8072%至37.70848%之間，其中隨著製程平均值 偏離目標值T愈嚴重，貝氏信賴區間與傳統信賴區間的差異會愈來愈大；隨著樣本數n的增加，貝氏信賴區間與傳統信賴區間的差異反而減少。第二部分使用HPD建立 的信賴下限與Johnson（1992）的信賴下限及Boyles（1991）提出的兩個近似信賴下限作比較。結果顯示，在不同的參數設定下，彼此之間各有優缺點。最後進行假設檢定，比較P-value與 。結果顯示，當製程平均值 等於目標值T時，P-value與 相等；當製程平均值 不等於目標值T時，P-value與 也因為受到不同參數的影響，彼此之間各有優缺點。
關鍵字：製程能力指標、信賴區間、貝氏統計模型、HPD

關鍵字

製程能力指標 ； 信賴區間 ； 貝氏統計模型 ； HPD

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參考文獻

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