摘 要 本論文以電子槍蒸鍍系統製備p-GaN的反射式歐姆電極NiBe(2 nm)/Ag(150 nm)、NiBe(2 nm)/Ag(150 nm)/Al(2 nm)、NiBe(2 nm)/Ag(150 nm)/Al(5 nm)、NiBe(2 nm)/Ag(150 nm)/Al(10 nm)等四組試片,旨在研究Al超薄層的添加以及其厚度對於NiBe/Ag反射式歐姆電極光電特性的影響。除了探討在不同退火條件下,反射式歐姆電極的特徵接觸電阻之外,同時分析了電極的光反射率和金屬薄膜片電阻,並使用掃描式電子顯微鏡觀察試片表面樣貌,分析Al薄膜的添加對於抑制退火後Ag薄膜凝聚的效果。研究結果顯示,退火以後NiBe/Ag會發生劇烈凝聚現象,使得光反射率大幅下降,電極甚至呈現半透明,片電阻大幅增加;NiBe/Ag/Al在同樣的退火條件下,Al薄膜的添加發揮顯著抑制Ag膜凝聚的效用,即使經過長時間退火後仍具有一定的反射率,金屬薄膜片電阻也維持在與退火前幾乎一樣的數值。另外,Al薄膜的添加並不會使歐姆接觸變差,相對的反而促進了反射式電極的熱穩定性。綜合考量光反射率、金屬薄膜片電阻以及特徵接觸電阻,發現經長時間退火後NiBe/Ag/Al表現比NiBe/Ag優異,且Al薄膜厚度為2 nm時可以得到最佳結果。若以製作發光二極體之p-GaN反射式電極的觀點而言,p-GaN/NiBe(2 nm)/Ag(150 nm)/Al(2 nm)於空氣流通的石英爐管中,500 ℃下退火5分鐘後,可以得到在460 nm的光反射率為83%,金屬薄膜片電阻為0.14 Ω/□,特徵接觸電阻為2.3×10-2 Ω-cm2。