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IP:52.14.8.34
  • 學位論文

以氨氣電漿處理提升氧化鋯鉿鐵電元件之可靠度

Enhanced Device Reliability for HfZrOx-based Ferroelectric MFM Capacitor by NH3 Plasma Treatment

指導教授 : 巫勇賢

摘要


因申請專利緣故,資料延後公開

關鍵字

鐵電材料

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因申請專利緣故,資料延後公開

並列關鍵字

ferroelectric material

參考文獻


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