卷積神經網絡之自動缺陷識別之製造智慧_TFT-LCD陣列製程之實證研究

Manufacturing Intelligence via Convolutional Neural Network for automatic defect recognition and An Empirical study in TFT-LCD array process

林俊輝(Chun-Hui Lin)

指導教授 ： 簡禎富

國立清華大學/工學院/工業工程與工程管理學系碩士在職專班/碩士(2017年)

摘要

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關鍵字

薄膜電晶體液晶顯示器 ； 自動光學檢測 ； 自動缺陷分類 ； 卷積神經網絡 ； 深度學習

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Automatic Defect Classification (ADC) ； Automatic Optical Inspection (AOI) ； Convolutional Neural Networks(CNNs) ； Deep Learning (DL) ； TFT-LCD

參考文獻

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