由於各式自旋電子元件現已應用於記憶體、電晶體、邏輯閘等元件上,因此對於奈米磁性薄膜之熱傳遞性質的研究也顯得十分重要。本文將研究奈微米尺度之磁性波浪狀結構,分析其內部磁壁的產生對於熱傳導的影響。 磁性結構主要使用電子束微影以及電子槍鍍膜系統來製作,並利用磁化結構之形狀異向性來控制磁壁的分佈,其磁化結構以磁力顯微術來觀測,接著使用四點量測方法測量結構磁阻變化,最後利用樣品本身加電流發熱及電阻檢溫的方法得到結構的熱傳導係數。 直條狀的懸空樣品長度為37.3μm及寬度為290 nm。未加外加場的電阻率(ρ)及熱傳導係數(κ)求得室溫下的勞倫茲常數(L)為1.68×10-8 WΩK 略小於理論值2.45×10-8 WΩK。無外加磁場時,其熱傳導係數值都較外加垂直或平行奈米線主軸的熱傳導係數大,推測在無外加場的環境下,磁性奈米線的傳熱載子多了磁振子的貢獻。