多閘極穿隧式奈米碳管場效電晶體之電性研究

Investigation of electrical characteristics for multi gate tunneling-carbon nanotube field effect transistor

李亞叡(Ya-Jui Lee)

指導教授 ： 張廖貴術

國立清華大學/原子科學院/工程與系統科學系/碩士(2007年)

https://doi.org/10.6843/NTHU.2007.00435

摘要

傳統的蕭基特式碳管場效電晶體(Schottky barrier CNFET)發展至今，已廣泛的被許多學者研究，雖有成熟的製程技術與操作原理，但隨著時代的演進，SB-CNFET在電性上的表現卻無法有所突破，因此有許多新穎的碳管電晶體結構也漸漸開始被發展。
本論文的研究主軸主要是設計多閘極碳管電晶體結構，將穿隧效應的物理現象應用在奈米碳管場效電晶體中，使其能夠有優越的電特性。由於在穿隧效應發生時，電子能否通過通道是取決於穿隧能障的寬度，而穿隧能障則由閘極電場所控制，並且電子的穿隧機率會和閘極電場呈指數關係，因此穿隧電流的變化對閘極電場的控制將變得相當敏銳。我們就是利用這種方式來開關碳管電晶體，由實驗所得到的結果顯示，On/Off ratio高達近8個數量級，而Subthreshold swing也達到41mV/dec。在論文中，我們也會利用低溫量測系統進行變溫量測以驗證穿隧效應的物理機制。
在元件結構材料方面，我們會針對閘極介電層的厚度/介電係數對電性上的影響做深入探討。由實驗結果得知，閘介電層EOT(等效氧化層厚度)的大小會對元件電性有一定的影響。除此之外，我們首次使用了在製程上有許多優點的複晶矽(N+ poly)作為源極、汲極的材料，實驗結果雖然顯示複晶矽電極在正常的操作電壓下，電流大小仍無法和金屬電極相比，但對於導通電流原本就不大的碳管電晶體而言仍是在可接受的範圍，未來非常適合應用於低功率元件的發展。

關鍵字

carbon nanotube ； tunneling ； multi gate ； CNFET ； CNT