本實驗以射頻反應磁控濺鍍法將AlCrNbSiTiV靶與B靶共鍍合成AlCrNbSiTiVBx高熵氮化物薄膜。在固定AlCrNbSiTiV靶的瓦數下增加B靶瓦數,以探討B含量增加對薄膜結構和性質的影響。為測試此氮化物膜的熱穩定性質,將試片進行600 ℃~900 ℃不同溫度下的大氣退火處理,以觀察結構與性質的變化。 AlCrNbSiTiVBx高熵氮化膜皆是單一FCC相,屬NaCl型的晶體結構,B含量增加可細化晶粒及降低粗糙度,隨B含量由1.1%增加至10.4at%,晶粒大小由4nm減至1.6nm,而粗糙度亦更加下降,此歸因於B量多時,加強緩慢擴散效應,抑制晶粒成長。B含量1.1at%時,硬度高達42GPa的超硬水準,殘留應力為4.5GPa,但硬度、楊氏係數及殘留應力隨著B靶瓦數的增加有減少的趨勢。前者係由於薄膜壓縮應力的減少及較弱hexagonal B-N鍵的形成,而後者則因為含B量多的氮化膜電阻愈高,使偏壓的轟擊效果變差所致。 600°C退火無氧化現象,但因壓縮應力有部分釋放,其硬度與楊氏係數有下降現象。700°C退火則有TiO2氧化物形成,800°C退火更形成Al2O3,薄膜壓縮應力的釋放以及氧化物的形成,使硬度及楊氏係數大幅的下降。 大氣退火的氧化層厚度隨B含量增加而減小,顯示B有抑制氧化的作用,但抑制效果未如預期。可歸因於低熔點及易揮發的V2O5形成,不但促進B-N鍵結的氧化且使氧化層鬆散。