PAA-NH4被覆高分子抑制劑之鈦酸鋇粉體正方性及介電分析

Tetragonality and Dielectric Analysis of Barium Titanate Powder Coated with Polymer Inhibitors

謝東穎(Tung-Ying Hsieh)

指導教授 ： 簡朝和

國立清華大學/工學院/材料科學工程學系/碩士(2011年)

https://doi.org/10.6843/NTHU.2011.00317

摘要

本研究在鈦酸鋇粉體表面被覆高分子作為粉體成長的抑制劑，使粉體在高溫過程中凝團成長受到抑制，並透過空氣及氮氣的切換控制抑制劑的殘存量，達到粒徑大小的控制。研究結果顯示，在高溫熱處理下，鈦酸鋇粉體粒徑會隨著高分子被覆量的增加而變小；同時，透過X光繞射圖譜及拉曼光譜的分析結果顯示，粉體的正方性會隨著粒徑的變小而下降。並利用阻抗頻譜模擬分析與熱差分析儀證實粉體的介電常數及居禮溫度也會隨著粒徑的變小而下降。最後將1000oC下被覆2.5wt% PAA-NH4之鈦酸鋇粉體進行濕式球磨法，在不改變其正方性的狀態下使粉體粒徑下降。

關鍵字

介電常數 ； 居禮溫度 ； 正方性 ； 濕式球磨法 ； 鈦酸鋇 ； 阻抗頻譜分析

並列摘要

The barium titanate powder, coated with various amounts of PAA-NH4 polymer inhibitor, was heat treated in different atmosphere to control the particle size. The results show that particle size will decrease as increasing amounts of PAA-NH4 polymer inhibitor. As the particle size decreasing, the tetragonality, dielectric constant and Curie point of the powder will become smaller.

並列關鍵字

Dielectric constant ； Curie point ； Tetragonality ； Wet ball-milling ； Barium Titanium ； Impedance analysis

參考文獻

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