LED是近年來非常熱門的研究課題之一,許多文獻引用Shockley方程式來描述LED內部p-n junction處之電流-電壓變化,但由於LED之結構製程不斷改善,因此Shockley方程式可能已經不再適用於當今之LED。 本文參考其他文獻之實驗數據,推導出新的Diode方程式來描述p-n junction處之電流-電壓變化,並且更進一步推導出適用於具有多重量子井結構之LED上,並將其應用至LED模型內進行數值模擬。藉由數值模擬,可以得到LED內部之電位分佈,並且發現溫度對於作用在p-n junction處之電壓,會有很大的影響;除此之外, n電極以及電流阻擋層尺寸大小,對LED也會有很大影響。 根據本文之研究,可以得到在不同溫度以及不同n電極和電流阻擋層尺寸之下,LED之電流-電壓變化,希望能夠在LED之設計與應用上,提供許多幫助。