本研究為使用化學水浴沉積法成長CdS薄膜。有別傳統CBD方法,本研究將採用ammonia-free方法生長CdS薄膜。以醋酸鎘提供Cd2+來源,硫脲提供S2-來源,錯合劑將使用sodium citrate,酸鹼度(PH值)的調整則將使用KOH。此外,將添加borate buffer期許達到實驗過程中PH值維持固定。 由CdS薄膜試片相片可觀察薄膜顏色隨著沉積時間增加,顏色有逐漸變深現象,將由淺黃色到黃色。薄膜厚度方面,沉積溫度70℃,可發現隨沉積時間增加約略有線性成長的現象;沉積溫度80℃,則有明顯兩階段生長情形。由薄膜的表面形貌,可觀察到基板上呈現長條狀晶粒,且有許多長條狀聚集而成的cluster,隨著沉積時間增加,表面覆蓋越來越好,幾乎沒有孔洞。 從薄膜的結構分析,可以發現較高的沉積溫度80℃,薄膜結晶性較好,此外在80℃時,(100)強度明顯增加,顯示沈積薄膜有優選方向(100) 。參照文獻並對照低掠角XRD繞射圖,可以推測本研究所生成的CdS薄膜為Hexagonal結構。 由Tauc圖得到的硫化鎘薄膜光能隙值對沈積時間做圖,在沉積溫度70℃時,隨著沉積時間增加,光能隙值將增加,在沉積時間為120 min時有最大值2.54 eV,在此之後光能隙則有下降現象。在沉積溫度80℃時隨沈積時間增加,光能隙維持一常數2.52 eV直至沉積時間120 min,之後光能隙則有下降現象。 由薄膜表面與粗糙度分析,從量測到的AFM影像,隨著沉積時間增加,可看出表面孔洞有逐漸減少的現象,顯示沉積時間增加將使覆蓋變好,應可減少漏電流發生現象。