此論文的目的是針對我們實驗室內建構一套完整的系統,以成長高品質的單層石墨烯(Graphene),並使用各種不同的鑑定方式來判斷樣品的品質。單層石墨烯是一種單由碳元素組成的薄膜材料,厚度很小,被視為極佳的二維材料。由於其特殊的六角晶格結構,造成它的能帶結構也十分特殊,因而展現特別優異的傳輸特性,以及許多二維空間下特有的物理性質。 在這篇論文中,我們使用化學氣相沉積法來成長石墨烯薄膜。並利用光學顯微鏡、拉曼光譜儀做為初步判斷樣品品質的工具。另外,為了作更深入的基礎物理研究,我們將石墨烯樣品轉移至長有二氧化矽層的高摻雜矽基板上,把薄膜製作成霍爾元件,並進行電性量測。一般以化學氣相沉積法成長石墨烯的製程中,這種轉移過程是影響其基本特性表現很重要的一項步驟。因此在文中,我們針對「轉移石墨烯」這個製程,也提出一些想法,並進行實驗,嘗試改善樣品的品質。 建立化學氣相沉積的成長參數,與嘗試不同的轉移方法之後,我們利用量測石墨烯樣品的電性,更進一部分析微觀下製程對於樣品傳輸特性的影響。再根據文獻的理論計算,解釋所量測到的電性行為。實驗結果顯示,我們對轉移製程的調整很有機會改善樣品中帶電雜質的問題。此外,我們認為藉著此次的分析的經驗,未來將有機會完成一套數值分析方法,對電性量測的數據作定量分析。