共光程外差干涉儀應用於液體濃度測量

The Application of the Common-path Heterodyne Interferometer in Measuring the Liquid Concentration

洪振剛(Chen-Kang Hung)

指導教授 ： 卓聖芬

健行科技大學/電資學院/電子工程系碩士班/碩士(2016年)

摘要

本論文是利用光學外差干涉原理測量以全反射方式量測待測物的折射率變化。對於均勻透明材料而言，折射率也是均勻的分布，當待測介面滿足全反射的條件時，即發生全反射，此全反射後的光束將會引入垂直偏振光與水平偏振光之間因介面全反射效應所引起的相位差，此相位差與介面的折射率以及入射角有關。本論文將探討兩層結構和三層結構之全反射所引起的相位變化，並藉由高介電常數之三稜鏡可增加相位變化之靈敏度。

關鍵字

全反射 ； 相位差 ； 折射率

並列摘要

This paper is the use of optical heterodyne interferometry to measure the change in the refractive index of total reflection measured analyte. For homogeneous transparent material, the refractive index is uniformly distributed, when tested interface satisfies the total reflection condition, i.e., total reflection occurs, this beam will be totally reflected by the interface between the introduction of the vertically polarized light and horizontally polarized light a phase difference caused by the total reflection effect, this phase difference with the refractive index and the angle of incidence of the relevant interface. The results will explore the changes caused by the total reflection phase, and by this instrument will measure the phase change.

並列關鍵字

total reflection ； the phase difference ； the refractive index

參考文獻

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