利用受挫式全反射法及激發表面電漿波組態對硫化氫檢測

Using Frustrated Total Reflection Method and Exciting Surface Waves Configuration Detection of Hydrogen Sulfide

李庭瑋(Ting-Wei Li)

指導教授 ： 李正民

健行科技大學/電資學院/電子工程系碩士班/碩士(2018年)

摘要

本篇論文利用受挫式全反射法搭配 Kretschmann組態(稜鏡-金屬薄膜-硫化氫)和Otto組態 (稜鏡-硫化氫-金屬薄膜)激發表面電漿波對硫化氫的量測，藉由不同金屬層厚度變化做電腦模擬，找出 Kretschmann 組態和 Otto 組態激發表面電漿波時之最佳化金屬層厚度，對整個模擬結果作深入分析與探討。
本論文主要是利用電腦模擬作研究。上述激發表面電漿波組態所用的光源是紅光氦氖雷射波長 632.8 (nm) 為入射光源。
從本文研究的結果得知:硫化氫在 Kretschmann 組態中，銅薄膜厚度 34 nm、銀薄膜厚度 46 nm 、 金薄膜厚度 30 nm時;在 Otto 組態中，當銅薄膜厚度 296.5 nm、銀薄膜厚度 126 nm、金薄膜厚度 296.2 nm時，有最佳化的表面電漿波共振角。

關鍵字

受挫式全反射法 ； Kretschmann組態 ； 硫化氫 ； Otto組態 ； 表面電漿波

並列摘要

Using the frustrated total reflection method of Kretschmann configuration(prism – metal film – Hydrogen sulfide) and Otto configuration is this paper (prism - Hydrogen sulfide – metal film). Surface plasma wave stimulate excited for the detection of Hydrogen sulfide. Gold metal layer change is different thickness by computer simulation. When Kretschmann configuration and Otto configuration stimulate surface plasma wave, the gold metal layer is find optimum thickness. All simulation the result is in depth analysis and discussion for research.
Using computer simulation is the main point of this research. He-Ne laser with the wavelength of 632.8(nm) is used as a light source in these two kinds of configurations that have been mentioned above.
The results of this paper are: carbon dioxide in the Kretschmann configuration, copper film thickness of 34 nm, silver film thickness of 46 nm, gold film thickness of 30 nm ; In the Otto configuration, copper film thickness of 296.5 nm, silver film thickness of 126 nm, gold film thickness of 296.2 nm, There is optimization surface of the surface plasma wave resonance angle.

並列關鍵字

frustrated total reflection method ； Hydrogen sulfide ； Otto configuration ； surface plasma wave

參考文獻

(1) 李正民，「表面電磁波在多層薄膜界面的性質研究」，國立中央大學，碩士論文，民國七十四年。

(2) 李正民、劉民鈞、劉舜文‚“利用受挫式內部全反射法於Otto組態激發表面電漿波對氟之研究”‚第十屆現代通訊科技應用學術研討會暨全國大專生資通專題論文研討會‚S1-2‚2012年3月30日.地點：台北城市科技大學。

(3) 李正民、鄭育錫、劉舜文‚“利用受挫式內部全反射法於Kretschman組態激發表面電漿波應用於塑化劑之量測”‚第十屆現代通訊科技應用學術研討會暨全國大專生資通專題論文研討會‚S1-4‚2012年3月30日.地點：台北城市科技大學。

(4) 李正民、周姵妏、劉舜文‚“利用受挫式內部全反射法於Otto組態激發表面電漿波之木糖醇偵測”‚第十屆現代通訊科技應用學術研討會暨全國大專生資通專題論文研討會‚S1-6‚2012年3月30日.地點：台北城市科技大學。

(5) 李正民、劉民鈞、陳冠宇‚“表面電漿波激發組態之金屬厚度變化對氟之共振角影響”‚2012光電與通訊工程研討會‚21‚2012年10月26日‚地點：國立高雄應用科技大學。