摻雜奈米二氧化鈦的椰殼碳超級電容之研製

Study of TiO2 nanoparticle doping in coconut-shell carbon on the properties of super capacitor

陳冠吟(Kuan-Yin Chen)

指導教授 ： 閔庭輝

國立虎尾科技大學/電機資訊學院/電子工程系碩士班/碩士(2016年)

摘要

本論文研製之以添加不同重量比的二氧化鈦，來製備超級電容之碳電極，探討二氧化鈦粉的添加量對電容特性之影響。經由150mm濾紙過濾，再以烘烤手法製作出具有二氧化鈦披覆在碳粉結構上，並製備出超級電容之複合式碳電極，找出最佳電容特性參數。另外，本研究碳電極使用快速退火(RTA)，讓碳電極上有添加二氧化鈦粉的結構更好，也讓電容特性變得更好，並以場發射掃描式電子顯微鏡( Field emission scanning electronmicroscope,FE-SEM)、能量色散X-射線光譜(EDS)、循環伏安(CV)和恆電流充放電測試(Charge-discharge tests)探討以添加不同重量比的二氧化鈦對電容特性之影響。
研究結果表示，沒添加二氧化鈦跟有添加二氧化鈦，所製備出超級電容複合式碳電極，由循環伏安分析得知，在25mV/s掃描速率下電容值分別為73.104F/g、96.54F/g。另外有添加二氧化鈦的碳電極並以快速退火(RTA)具有最佳電容值為171.28F/g。

關鍵字

超級電容 ； 二氧化鈦 ； 循環伏安

並列摘要

In the study, TiO2 nanoparticles doping in coconut-shell carbon on the properties of super capacitor was investigated. The composite carbon electrodes were prepared by filtering and heat treatment used rapid thermal annealing (RTA), and were investigated by Electronic Data Systems (EDS), scanning electron microscopy (SEM), cyclic voltammetry (CV), and charge-discharge measurements. The results of charge-discharge measurements at scan rate of 25 mV/s reveal that the capacitance without TiO2 nanoparticles was 73.104 F/g, and could be improved to 96.54 F/g while TiO2 nanoparticles doped in carbon electrode. Under heat treatment by rapid thermal annealing (RTA), the capacitance could be increased to 171.28 F/g further. This may be due to the TiO2 rutile phase can be obtained while annealing by RTA, and it has higher capacitance than other TiO2 phases.

並列關鍵字

super capacitor ； TiO2 ； cyclic voltammetry

參考文獻

[19]唯電科技股份有限公司，產品介紹“電雙層電容器之充電和放電機制示意圖”。

[2]B.E. Conway, V. Birss, J. Wojtowicz ,1997 , “The role and Utilization of pseudo capacitors for energy storage by supercapacitors”, [J].Power sources, vol. 66,pp. 1-14。

[3]R. Kotz, M. Carlen,2000, “Electrochemical”, Acta,vol. 45 (15-16), pp.2483。

[8]H.Shi, Electro him, 1996, “Activated carbons and double layer capacitance”, Acta, vol.41, pp.1633-1639。

[10]M.Okamura,1996, “A basic study on power storage capacitor system”, Electrical Engineering in Japan, vol.116,no.3,pp.504-510。