干涉儀在光學工場中已是最有效的檢驗工具,本文敘述了如何使用Zernike多項式來擬合被測的光波波面,解釋干涉圓形所代表光學系統或元件之特性。內容包含了計算所需的數學方法,並以實際的干涉圓形爲例分析,在結論中儉討此方法之優點及缺點。
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