帳號:guest(18.217.7.117)          離開系統
字體大小: 字級放大   字級縮小   預設字形  

詳目顯示

以作者查詢圖書館館藏以作者查詢臺灣博碩士論文系統以作者查詢全國書目
作者(中文):陳明權
論文名稱(中文):應用田口方法達成拋光製程參數最佳化
論文名稱(外文):Application of Taguchi Methods to Optimize the Parameter of Polishing Process
指導教授(中文):蘇朝墩
指導教授(外文):Su, Chao-Ton
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工業工程與工程管理學系碩士在職專班
學號:9536510
出版年(民國):97
畢業學年度:97
語文別:中文
論文頁數:47
中文關鍵詞:田口方法硬碟片拋光直交表
外文關鍵詞:Taguchi methodshard diskpolishingorthogonal array
相關次數:
  • 推薦推薦:0
  • 點閱點閱:962
  • 評分評分:*****
  • 下載下載:8
  • 收藏收藏:0
本論文應用田口方法於硬碟片的拋光製程改善。首先,藉由工程背景人員的專業判斷,選擇特定影響拋光製程的必要檢測項目。接著,分析生產過程中的控制因子(Control Factors)與雜音因子(Noise Factors),來發現哪些因素的改變會影響品質。透過拋光製程的改善,以降低產品的不良片數與提高產品良率。
依循直交表的實驗設計,將控制因子適當地配置在直交表中,以實驗操作測得各水準組合下的產品特性數據,分析歸納後,找出明顯影響產品品質的因子,以及最佳的拋光製程的參數水準組合。經由實例分析,並將田口方法應用於工廠實務上,研究結果顯示田口方法能有效降低成本。
In this thesis, a workflow to improve the polishing process of hard disks with the Taguchi methods is proposed. First, the essential test factors that specifically influence the polishing process are selected by the engineers’ discretion. Next, the effects of the control factors and the noise factors of the process on the product’s quality are analyzed. Finally, after implementing the Taguchi methods to improve polishing process, we assume to reduce defective products and increase product yields.
According to the orthogonal array, all the control factors are placed in the array representing an experiment that is suitable. The factors that significantly affect the product quality are distinguished and the optimal polishing parameter is composed via measuring and analyzing the results of the experiments of real operation. This research demonstrates that by choosing the proper levels of optimal parameter of polishing, the yields of hard disks can be raised. The results of this research show that applying the Taguchi methods in real factory processes reduces costs effectively.
中文摘要 I
Abstract II
誌謝 III
目錄 IV
表目錄 VI
圖目錄 VII
第一章 緒論 1
1.1 研究背景 1
1.2 研究動機 2
1.3 研究範圍與目的 3
1.4 論文架構 4
第二章 硬碟片化學機械拋光製程介紹 5
2.1 化學機械拋光法 5
2.2 硬碟片的化學機械拋光製程 6
2.3 硬碟片在化學機械拋光法的應用 10
2.4 化學機械拋光製程的磁片缺陷 13
第三章 田口方法 16
3.1 田口式品質工程之簡介 16
3.2 品質損失函數 20
3.3 直交表的應用 22
3.4 參數設計 26
3.5 確認實驗 32
第四章 案例說明 34
4.1 問題描述 34
4.2 實驗規劃與執行 34
4.3 實驗數據分析 39
4.4 實驗驗證 41
4.5 比較與分析 42
第五章 結論 45
5.1 結論 45
5.2 未來研究方向 46
參考文獻 47
Wu, A., 2001, Robust Design Using Taguchi Methods, Workshop Manual, American Supplier Institute (ASI), Version 3.0
Ross, P. J., 1996, Taguchi Techniques for Quality Engineering, McGraw-Hill Book Company
Trendfocus, 2008, Rigid Disk Media & Substrate Information Service, http://www.trendfocus.com/samples/2008/MEDIA_2007_Annual_SAMPLE.pdf
林苑晴,2007,擁抱SSD HDD/記憶體模組商對峙,新電子科技雜誌,258期,每月專題二
歐家慶,2004,吸附效應對於拋光刀具磨耗之初步研究,國立中山大學機械與機電工程學系碩士論文
黎正中,1993,穩健設計之品質工程,台北圖書有限公司
鄭崇義,2000,田口品質工程技術理論與實務(第三版),中華民國品質學會
蘇朝墩,2004,「專訪世界品質大師田口玄一博士」,品質月刊,第四十卷,第三期,30-32頁
蘇朝墩,2005,田口式品質工程簡介,清華大學品質研究中心,http://www.qrc.nthu.edu.tw/QRC/studyQ/QE/index.htm
蘇朝墩,2006,品質工程(第四版),中華民國品質學會
(此全文限內部瀏覽)
論文全文
 
 
 
 
第一頁 上一頁 下一頁 最後一頁 top
* *