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查詢策略：書刊名=應用奇異值分解法(SVD)與獨立成份分析法(ICA)於薄膜電晶體液晶顯示面板之表面瑕疵檢測
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1應用奇異值分解法(SVD)與獨立成份分析法(ICA)於薄膜電晶體液晶顯示面板之表面瑕疵檢測=Automatic defect inspection for patterned TFT-LCD panel surfaces using singular value decomposition and independent component analysis呂奇傑(909509)撰2005008.9197
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