電線短路熔痕以二次離子質譜儀（SIMS）做表面分析之鑑識方式

Analysis of Fire Investigation for Short Circuit by Applying Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS)

王靜婷(Ji-Ting Wang) ； 陳火炎(Ho-An Chang) ； 江金龍(Chin-Lung Chiung)

《弘光學報》 38期 (2001/11) Pp. 43-48

https://doi.org/10.6615/HAR.200111.38.06

摘要

電器火災發生因素電源線斷路所形成一次痕與二次痕之判別為火災調查研究者所欲突破之關鍵，然由於熔痕外觀檢視法以及金相分析法以遭遇研究發展上之瓶頸，本研究試圖引用另一種分析技術來探討銅質導線短路熔痕其內部之化學組成，即二次離子質譜儀（Secondary Ion Mass Spectroscopy; SIMS）分析技術，希望能藉由SIMS良好的縱深解析度與高靈敏度從所偵測之訊息分析整理後提出一次痕、二次痕判定之特徵依據。

關鍵字

一次痕 ； 二次痕 ； 熱痕 ； 二次離子質譜儀 ； (SIMS) ； 縱深分佈分析

並列摘要

To determine whether the short circuit was the cause of the fire or resulted from the fire from the electrical fires is the key point to break through by the researchers of fire investigation even if the observation of cooper microstructure doesn't do it well. Another analytical technique can be used in this research to try to understand the chemical component of the cooper arc bead, it's ＂Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS＂. We want to use its good sensitivity of ＂Depth Profiling Analysis＂ to get the sufficient and useful information to determine between the short circuit was the cause of fire or resulted from the fire.

並列關鍵字

the cause of the fire ； resulted from the fire ； cooper microstructure ； secondaryion mass SPECTROSCOPY ； DEPTH PRFILING ANALYSIS

參考文獻

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