透過您的圖書館登入
IP:18.222.69.152
  • 學位論文

在氧化鋅上成長氮化鎵及氮化銦鎵之光學量測與分析及奈米碳管之場發射性質研究

Optical Measurements and Analyses of InGaN/GaN on ZnO and Field Emission Studies of Carbon Nanotubes

指導教授 : 馮哲川
若您是本文的作者,可授權文章由華藝線上圖書館中協助推廣。

摘要


由於有相近的晶格及層序匹配,氧化鋅被考慮用來當作三族氮化物磊晶成長的基板材料。因此我們的工作包含了使用有機金屬化學氣相沈積磊晶技術在晶格匹配的氧化鋅基板上成長氮化銦鎵及氮化鎵磊晶層。因為在成長氮化鎵基底材料元件上,有機金屬化學氣相沈積磊晶為一個主要的生長技術,因此在其成長氧化鋅基板上有需要在一全面完整的探索。然而,在使用有機金屬化學氣相沈積磊晶在氧化鋅上成長氮化鎵仍有數個數個議題待解決。其中一個是氧化鋅基板的熱穩定性,鋅原子會向外擴散到氮化鎵層並且氫氣會背向蝕刻氧化鋅基板,這會造成氮化鎵較不佳的品質。高解析度X光繞射量測可確認出在氧化鋅上成長的氮化銦鎵及氮化鎵薄膜。而透過室溫和變溫的光激發螢光檢測,我們可得到樣品的光學及結構特性。另外,為了避免鋅及氧原子擴散到磊晶層,我們在氧化鋅上加上一層氧化鋁的過渡層。高解析度X光繞射量測顯示出我們成功的在氧化鋅基板上的氧化鋁過渡層上成長了單晶的氮化銦鎵薄膜。 而我論文的第二個部份,是奈米碳管材料的研究。研究的主要課題是討論由微波電漿化學氣相沉積法成長之奈米碳管的場發射性質。我們的樣品是在矽基板有厚度10奈米的阻障層及厚度7奈米的鎳催化劑層,鎳層再經過電漿處理後,會轉變成分離的島狀物。奈米碳管就是藉微波電漿化學氣相沉積成長在覆蓋有鎳層的區域上。較佳的奈米碳管薄膜具有非常低的場發射門檻電場,門檻電場在電流密度每平方公分10微安培下大約是每微米0.088 伏特。我們發現微波電漿化學氣相沉積的製程參數對奈米碳館的場發射性質有著重要的影響,其中包括甲烷的流率及製程的微波功率。掃瞄式電子顯微鏡的觀察則顯示出了中空,且類似竹子結構的多壁奈米碳管。而場發射量測和F-N分析則可得到奈米碳管的門檻電場、啟始電場、及場增強因子。最後經由拉曼光譜的測量我們可得到奈米碳管的石墨化程度。

並列摘要


無資料

參考文獻


2.20 J.H. Ting, C.C. Chang, S.L. Chen, D.S. Lu, C.Y. Kung, F.Y. Huang, Thin Solid Films,496 299-305 (2006).
4.14 Li W, Zhang H, Wang C, Zhang Y, Xu L, Zhu K, Appl Phys Lett,70, 2684 (1997).
2.19 Chih Ming Hsua, Chao Hsun Linb, Hong Jen Laia, Cheng Tzu Kuo, Thin Solid Films, 471 140– 144 (2005).
3.12 Zhou Xin, Gu Shulin, Zhu Shunming, Ye Jiandong, Liu Wei Liu Songmin, Hu Liqun, Zheng Youdou, Zhang Rong and Shi Yi, Chinese Journal of Semiconductors, 27, 249 (2006).
3.7 A. Kobayashi, J. Ohta, and H. Fujioka, Appl. Phys. Lett. 99, 123513 (2004).

延伸閱讀