透過您的圖書館登入
IP:3.133.159.224
登入
登出
透過您的圖書館登入
透過您的圖書館登入
登入
登出
出版品瀏覽
幫助
授權華藝
IP:3.133.159.224
繁體中文
English
简体中文
精確檢索 : 冠狀病毒
模糊檢索 : 冠狀病毒
冠狀病毒感染
冠狀病毒疾病
查詢出版品: 冠狀病毒
進階查詢
查詢歷史
主題瀏覽
【下載完整報告】AI熱潮從學術研究也能看出端倪?哪些議題是2023熱搜議題?
學位論文
晶圓不良品重測探針卡頭配置之成本與時間分析–以K公司為例
Cost and time analysis of probe card configuration during fail die re-probing The Case Study of K Company
黃武德
指導教授 :
蘇哲平
國立清華大學/工學院/工業工程與工程管理學系碩士在職專班/碩士(2012年)
若您是本文的作者,可
授權文章
由華藝線上圖書館中協助推廣。
引用
分享
收藏
查找全文
摘要
因申請專利緣故,資料延後公開
關鍵字
探針卡
;
測試機
;
成本
;
重測
並列摘要
因申請專利緣故,資料延後公開
並列關鍵字
Probe card
;
TESTER
;
Cost
;
Reprobing
參考文獻
因申請專利緣故,資料延後公開
Google Scholar
延伸閱讀
Liu, T., Lin, C. L., & Liu, J. (2008).
失效模式效應分析與KT手法於半導體晶圓代工廠日常管理之應用
.
品質學報
,
15
(6), 399-407. https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=10220690-200812-15-6-399-407-a
何應、鄭春生、謝定緁(2018)。
應用k最近鄰資料描述法建立多變量管制圖:以監控印刷電路板雷射鑽孔製程為例
。
品質學報
,
25
(6),399-413。https://doi.org/10.6220/joq.201812_25(6).0003
謝經緯(2014)。
軟性印刷電路板廠商競爭策略之個案分析─以K公司為例
〔碩士論文,國立中央大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0031-0412201511574604
陳銘傳(2017)。
The Application of the Failure Mode and Effect Analysis - A study of the Flywheel Production Process of the Case Company
〔碩士論文,國立虎尾科技大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0028-0707201721084200
徐上閔(2020)。
Using Failure Mode and Effect Analysis to Discuss the Improvement of Thermal Conductive Pad Manufacturing Process
〔碩士論文,健行科技大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0022-2501202112093600
國際替代計量
晶圓不良品重測探針卡頭配置之成本與時間分析–以K公司為例
相關連結
論文館藏
篇名與作者
摘要與關鍵字
並列摘要與關鍵字
參考文獻
延伸閱讀
國際替代計量
相關連結
查找全文
本網站使用Cookies
為了持續優化網站功能與使用者體驗,本網站將Cookies分析技術用於網站營運、分析和個人化服務之目的。
若您繼續瀏覽本網站,即表示您同意本網站使用Cookies。
我知道了
隱私權聲明