針對連續生產特性發展的抽樣計畫,Dodge (1943) 以單一產品為單位,提出了連續抽樣計畫, Dodge (1956) 更以連續抽樣計畫為延伸,針對『貨批』為單位提出了計數值跳批抽樣計畫,且由Perry (1973) 加以改善並探討計數值跳批抽樣計畫之貨批平均出廠品質公式,有效的在產品品質穩定時,降低抽檢頻率,減少檢驗成本。然而,在現行的半導體產業製程生產環境中,每一個生產站點皆為多產品多機台的生產製程,且其檢驗貨批是否允收的量測機台有其產能限制。因此,本論文主要探討在考慮貨批平均出廠品質之下,並且使用計量值參考計畫之跳批抽樣計畫的制訂,更考慮量測機台有產能限制之實際情況下,跳批抽樣計畫之平均抽樣頻率最佳化的調整,最後將以一實例探討執行跳批抽樣計畫之績效與敏感度分析。
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