Reference
|
-
Chapter 1
連結:
-
[1] Twidell, J.; Weir, T., Renewable Energy Resources. Taylor & Francis: 2015.
連結:
-
[3] Conibeer, G. Materials Today 2007, 10, 42-50.
連結:
-
[5] Heo, J. H.; Im, S. H.; Noh, J. H.; Mandal, T. N.; Lim, C. S.; Chang, J. A.; Lee, Y. H.; Kim, H. J.; Sarkar, A.; Nazeeruddin, K.; Gratzel, M.; Seok, S. I. Nat. Photon. 2013, 7, 486-491.
連結:
-
[6] Tsai, M. L.; Su, S. H.; Chang, J. K.; Tsai, D. S.; Chen, C. H.; Wu, C. I.; Li, L. J.; Chen, L. J.; He, J. H. ACS Nano 2014, 8, 8317-8322.
連結:
-
[7] Wei, W. R.; Tsai, M. L.; Ho, S. T.; Tai, S. H.; Ho, C. R.; Tsai, S. H.; Liu, C. W.; Chung, R. J.; He, J. H. Nano Lett. 2013, 13, 3658-3663.
連結:
-
[17] Thompson, K.; Booske, J. H.; Larson, D. J.; Kelly, T. F. Three-Dimensional Atom Mapping of Dopants in Si Nanostructures. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 052108.
連結:
-
[18] Thompson, K.; Bunton, J. H.; Kelly, T. F.; Larson, D. J. Characterization of Ultralow-Energy Implants and Towards the Analysis of Three-Dimensional Dopant Distributions Using Three-Dimensional Atom-Probe Tomography. J. Vac. Sci. Technol. B 2006, 24, 421-427.
連結:
-
[19] Johnson, N. M.; Biegelsen, D. K.; Moyer, M. D. Deuterium Passivation of Grain‐Boundary Dangling Bonds in Silicon Thin Films. Appl. Phys. Lett. 1982, 40, 882-884.
連結:
-
[1] Hsu, C. Y.; Lien, D. H.; Lu, S. Y.; Chen, C. Y.; Kang, C. F.; Chueh, Y. L.; Hsu, W. K.; He, J. H. ACS Nano 2012, 6, 6687-6692.
連結:
-
[2] Tsai, D. S.; Lin, C. A.; Lien, W. C.; Chang, H. C.; Wang, Y. L.; He, J. H. ACS Nano 2011, 5, 7748-7753.
連結:
-
[6] Tsai, S. H.; Chang, H. C.; Wang, H. H.; Chen, S. Y.; Lin, C. A.; Chen, S. A.; Chueh, Y. L.; He, J. H. ACS Nano 2011, 5, 9501-9510.
連結:
-
[7] Wei, W. R.; Tsai, M. L.; Ho, S. T.; Tai, S. H.; Ho, C. R.; Tsai, S. H.; Liu, C. W.; Chung, R. J.; He, J. H. Nano Lett. 2013, 13, 3658-3663.
連結:
-
[10] Lin, Y. R.; Lai, K. Y.; Wang, H. P.; He, J. H. Nanoscale 2010, 2, 2765-2768.
連結:
-
[11] Chang, H. C.; Lai, K. Y.; Dai, Y. A.; Wang, H. H.; Lin, C. A.; He, J. H. Energ. Environ. Sci. 2011, 4, 2863-2869.
連結:
-
[17] Garnett, E.; Yang, P. Nano Lett. 2010, 10, 1082-1087.
連結:
-
[18] Garnett, E. C.; Yang, P. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 9224-9225.
連結:
-
[26] Kazmerski, L. L. Renew. Sust. Energ. Rev. 1997, 1, 71-170.
連結:
-
[30] Wang, T. H.; Iwaniczko, E.; Page, M. R.; Levi, D. H.; Yan, Y.; Branz, H. M.; Wang, Q. Thin Solid Films 2006, 501, 284-287.
連結:
-
[36] Woo-Byoung, K. A.; Matsumoto, T.; Kobayashi, H. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 072101.
連結:
-
[38] Lien, S.-Y.; Yang, C.-H.; Hsu, C.-H.; Lin, Y.-S.; Wang, C.-C.; Wuu, D.-S. Mater. Chem. Phys. 2012, 133, 63-68.
連結:
-
[39] Xiu, Y.; Zhang, S.; Yelundur, V.; Rohatgi, A.; Hess, D. W.; Wong, C. P. Langmuir 2008, 24, 10421-10426.
連結:
-
[42] Bullis, W. M.; Huff, H. R. J. Electrochem. Soc. 1996, 143, 1399-1405.
連結:
-
[4] Sun, K.; Shen, S.; Liang, Y.; Burrows, P. E.; Mao S. S.; Wang, D. Chem. Rev., 2014, 114, 8662-8719.
連結:
-
[7] Kenney, M. J.; Gong, M.; Li, Y.; Wu, J. Z.; Feng, J.; Lanza, M.; Dai, H. Science 2013, 342, 836-840.
連結:
-
[16] Nozik, A. J. Appl. Phys. Lett. 1976, 29, 150-153.
連結:
-
[19] Olibet, S., Phys. Status Solidi A 2010, 207, 651-656.
連結:
-
[21] Wang, H. P.; Lin, T. Y.; Tsai, M. L.; Tu, W. C.; Huang, M. Y.; Liu, C. W.; Chueh, Y. L.; He, J. H. ACS Nano 2014, 8, 2959-2969.
連結:
-
[25] Wang, H. P.; Lin, T. Y.; Hsu, C. W.; Tsai, M. L.; Huang, C. H.; Wei, W. R.; Huang, M. Y.; Chien, Y. J.; Yang, P. C.; Liu, C. W.; Chou, L. J.; He, J. H. ACS Nano 2013, 7, 9325-9335.
連結:
-
[26] Smith, R. D. L.; Prévot, M. S.; Fagan, R. D.; Zhang, Z.; Sedach, P. A.; Siu, M. K. J.; Trudel, S.; Berlinguette, C. P. Science 2013, 340, 60-63.
連結:
-
[28] Sun, K.; Pang, X.; Shen, S.; Qian, X.; Cheung, J. S.; Wang, D. Nano Lett. 2013, 13, 2064-2072.
連結:
-
[29] Sun, K.; Shen, S.; Cheung, J. S.; Pang, X.; Park, N.; Zhou, J.; Hu, Y.; Sun, Z.; Noh, S. Y.; Riley, C. T.; Yu, P. K. L.; Jin, S.; Wang, D. Phys. Chem. Chem. Phys. 2014, 16, 4612-4625.
連結:
-
[32] Corrigan, D. A. J. Electrochem. Soc. 1987, 134, 377-384.
連結:
-
[33] Greiner, M. T.; Chai, L.; Helander, M. G.; Tang, W.-M.; Lu, Z.-H. Adv. Funct. Mater. 2012, 22, 4557-4568.
連結:
-
[34] Nakagawa, T.; Bjorge, N. S.; Murray, R. W. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 15578-15579.
連結:
-
[37] Wei, W. R.; Tsai, M. L.; Ho, S. T.; Tai, S. H.; Ho, C. R.; Tsai, S. H.; Liu, C. W.; Chung, R. J.; He, J. H. Nano Lett. 2013, 13, 3658-3663.
連結:
-
[44] Weber, M. F.; Dignam, M. J. J. Electrochem. Soc. 1984, 131, 1258-1265.
連結:
-
[45] Wang, H. P.; Lien, D. H.; Tsai, M. L.; Lin, C. A.; Chang, H. C.; Lai, K. Y.; He, J. H. J. Mater. Chem. C 2014, 2, 3144-3171.
連結:
-
[2] Beling, A.; Campbell, J. C. J. Lightwave Technol. 2009, 27, 343-355.
連結:
-
[3] Li, K.; Sun, H.; Ren, F.; Ng, K. W.; Tran, T. T. D.; Chen, R.; Chang-Hasnain, C. J. Nano Lett. 2014, 14, 183-190.
連結:
-
[6] Henry, C. H. J. Appl. Phys. 1980, 51, 4494-4500.
連結:
-
[13] Friedrich, J.; Kallinger, B.; Knoke, I.; Berwian, P.; Meissner, E. 20th Indium Phosphide and Related Materials (IPRM), 2008, 1-6.
連結:
-
[14] Van de Walle, C. G.; Neugebauer, J. Annu. Rev. Mater. Res. 2006, 36, 179-198.
連結:
-
[15] Van de Walle, C. G.; Neugebauer, J. Nature 2003, 423, 626-628.
連結:
-
[16] Omeljanovsky, E. M.; Pakhomov, A. V.; Polyakov, A. Y. J. Electron. Mater. 1989, 18, 659-670.
連結:
-
[23] Tuck, B.; Hooper, A. J. Phys. D: Appl. Phys. 1975, 8, 1806-1821.
連結:
-
[25] Katz, A. Adv. Mater. 1993, 5, 228-229.
連結:
-
[30] Heath, J. T.; Cohen, J. D.; Shafarman, W. N.; Liao, D. X.; Rockett, A. A. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 4540-4542.
連結:
-
[37] Holt, D. B.; Joy, D. C. SEM Microcharacterization of Semiconductors. Academic, UK, 1986.
連結:
-
[2] Chen, K.; Kapadia, R.; Harker, A.; Desai, S.; Seuk Kang, J.; Chuang, S.; Tosun, M.; Sutter-Fella, C. M.; Tsang, M.; Zeng, Y.; Kiriya, D.; Hazra, J.; Madhvapathy, S. R.; Hettick, M.; Chen, Y.-Z.; Mastandrea, J.; Amani, M.; Cabrini, S.; Chueh, Y.-L.; Ager Iii, J. W.; Chrzan, D. C.; Javey, A. Nat Commun 2016, 7, 10502 .
連結:
-
[5] Nakamura, S.; Mukai, T.; Senoh, M. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 1687-1689.
連結:
-
[6] Ko, H.; Takei, K.; Kapadia, R.; Chuang, S.; Fang, H.; Leu, P. W.; Ganapathi, K.; Plis, E.; Kim, H. S.; Chen, S.-Y.; Madsen, M.; Ford, A. C.; Chueh, Y.-L.; Krishna, S.; Salahuddin, S.; Javey, A. Nature 2010, 468, 286-289.
連結:
-
[8] Campbell, J. C. LT. J. Lightw. Technol. 2007, 25, 109-121.
連結:
-
[17] Onton, A.; Chicotka, R. J. Phys. Rev. B 1971, 4, 1847-1853.
連結:
-
[29] Gel, M.; Shimoyama, I. Journal of Micromechanics and Microengineering 2004, 14, 423.
連結:
-
[30] Burstein, E. Phys. Rev. 1954, 93, 632-633.
連結:
-
[31] Moss, T. S. Proc. Phys. Soc. Sect. B 1954, 67, 775.
連結:
-
[34] Kurik, M. V. Phys. Status Solidi (a) 1971, 8, 9-45.
連結:
-
[39] Bacher, F. R.; Leigh, W. B. Journal of Crystal Growth 1987, 80, 456-458.
連結:
-
[40] Rosenwaks, Y.; Shapira, Y.; Huppert, D. Phys. Rev. B 1991, 44, 13097-13100.
連結:
-
[2] McJeon, H.; Edmonds, J.; Bauer, N.; Clarke, L.; Fisher, B.; Flannery, B. P.; Hilaire, J.; Krey, V.; Marangoni, G.; Mi, R.; Riahi, K.; Rogner, H.; Tavoni, M. Nature 2014, 514, 482-485.
-
[4] Zheng, M.; Wang, H. P.; Sutter-Fella, C. M.; Battaglia, C.; Aloni, S.; Wang, X.; Moore, J.; Beeman, J. W.; Hettick, M.; Amani, M.; Hsu, W. T.; Ager, J. W.; Bermel, P.; Lundstrom, M.; He, J. H.; Javey, A., T Adv. Energy Mater. 2015, 5, 1501337.
-
[8] Avasthi, S.; Lee, S.; Loo, Y. L.; Sturm, J. C. Adv. Mater. 2011, 23, 5762-5766.
-
[9] Shah, A.; Torres, P.; Tscharner, R.; Wyrsch, N.; Keppner, H. Science 1999, 285, 692-698.
-
[10] DeWolf, S., Descoeudres, A., Holman, Z. C., & Ballif, C. Green 2012, 2, 7-24.
-
[11] Masuko K, Shigematsu M, Hashiguchi T, Fujishima D, Kai M, Yoshimura N, Yamaguchi T, Ichihashi Y, Mishima T, Matsubara N, Yamanishi T, Takahama T, Taguchi M, Maruyama E, Okamoto S. IEEE J. Photovolt. 2014, 4, 1433-1435.
-
[12] Hajime, G.; Katsutoshi, N.; Katsuhiro, T.; Shinjiro, H.; Kenji, H.; Junichi, M.; Takashi, F. Applied Physics Express 2009, 2, 035004.
-
[13] Kupec, J.; Stoop, R. L.; Witzigmann, B. Opt. Express 2010, 18, 27589-27605.
-
[14] Tavakoli, M. M.; Lin, Q.; Leung, S.-F.; Lui, G. C.; Lu, H.; Li, L.; Xiang, B.; Fan, Z. Nanoscale 2016, 8, 4276-4283.
-
[15] Huang, B.-R.; Yang, Y.-K.; Lin, T.-C.; Yang, W.-L. Sol. Energ. Mat. Sol. Cells. 2012, 98, 357-362.
-
[16] Da, Y.; Xuan, Y. Opt. Express 2013, 21, A1065-A1077.
-
Chapter 2
-
[3] Wierer, J. J.; David, A.; Megens, M. M. Nat. Photonics 2009, 3, 163-169.
-
[4] Zhu, J.; Yu, Z.; Fan, S.; Cui, Y. Mater. Sci. Eng. Rep. 2010, 70, 330-340.
-
[5] Lin, Q.; Hua, B.; Leung, S.-f.; Duan, X.; Fan, Z. ACS Nano 2013, 7, 2725-2732.
-
[8] Wang, H. P.; Lai, K. Y.; Lin, Y. R.; Lin, C. A.; He, J. H. Langmuir 2010, 26, 12855-12858.
-
[9] Dai, Y. A.; Chang, H. C.; Lai, K. Y.; Lin, C. A.; Chung, R. J.; Lin, G. R.; He, J. H. J. Mater. Chem. 2010, 20, 10924-10930.
-
[12] Peng, K.-Q.; Lee, S.-T. Adv. Mater. 2011, 23, 198-215.
-
[13] Kelzenberg, M. D.; Boettcher, S. W.; Petykiewicz, J. A.; Turner-Evans, D. B.; Putnam, M. C.; Warren, E. L.; Spurgeon, J. M.; Briggs, R. M.; Lewis, N. S.; Atwater, H. A. Nat. Mater. 2010, 9, 239-244.
-
[14] Adachi, M. M.; Anantram, M. P.; Karim, K. S. Sci. Rep. 2013, 3, 1-6.
-
[15] Jia, G.; Eisenhawer, B.; Dellith, J.; Falk, F.; Th?gersen, A.; Ulyashin, A. J. Phys. Chem. C 2013, 117, 1091-1096.
-
[16] Oh, J.; Yuan, H.-C.; Branz, H. M. Nat. Nanotechnol. 2012, 7, 743-748.
-
[19] Kopecek, R.; Libal, J.; Buck, T.; Peter, K.; Wambach, K.; Acciarri, M.; Binetti, S.; Geerligs, L. J.; Fath, P. in: Proceedings of the 31st IEEE Photovoltaic Specialists Conference 2005, 1257-1260.
-
[20] Panasonic Corp. http://panasonic.co.jp/corp/news/official.data/data.dir/2013/02/en130212-7/en130212-7.pdf 2013.
-
[21] Descoeudres, A.; Holman, Z. C.; Barraud, L.; Morel, S.; De Wolf, S.; Ballif, C. IEEE J. Photovoltaics 2013, 3, 83-89.
-
[22] Cuevas, A.; Kerr, M. J.; Samundsett, C.; Ferrazza, F.; Coletti, G. Millisecond Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 4952-4954.
-
[23] Glunz, S. W.; Rein, S.; Lee, J. Y.; Warta, W. J. Appl. Phys. 2001, 90, 2397-2404.
-
[24] Geerligs, L. J.; Macdonald, D. Prog. Photovolt: Res. Appl. 2004, 12, 309-316.
-
[25] Chao, Y. C.; Chen, C. Y.; Lin, C. A.; He, J. H. Energy Environ. Sci. 2011, 4, 3436-3441.
-
[27] Huang, Z.; Shimizu, T.; Senz, S.; Zhang, Z.; Zhang, X.; Lee, W.; Geyer, N.; Gösele, U. Nano Lett. 2009, 9, 2519-2525.
-
[28] Huang, Z.; Geyer, N.; Werner, P.; de Boor, J.; Gösele, U. Adv. Mater. 2011, 23, 285-308.
-
[29] Olibet, S.; Monachon, C.; Hessler-Wyser, A.; Vallat-Sauvain, E.; Fesquet, L.; Damon-Lacoste, J.; De-Wolf, S.; Ballif, C. in: Proceedings of the 22nd EUPVSEC 2008, 1140-1144.
-
[31] K. Das, U.; Burrows, M. Z.; Lu, M.; Bowden, S.; Birkmire, R. W. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 063504.
-
[32] Xiu, Y.; Zhu, L.; Hess, D. W.; Wong, C. P. Nano Lett. 2007, 7, 3388-3393.
-
[33] Jia, G.; Steglich, M.; Sill, I.; Falk, F. Sol. Energ. Mat. Sol. C. 2012, 96, 226-230.
-
[34] Edwards, M.; Bowden, S.; Das, U.; Burrows, M. Sol. Energ. Mat. Sol. C. 2008, 92, 1373-1377.
-
[35] Schmidt, V.; Senz, S.; Gösele, U. Nano Lett. 2005, 5, 931-935.
-
[37] Kobayashi, H.; Imamura, K.; Kim, W. B.; Im, S. S.; Asuha. Appl. Surf. Sci. 2010, 256, 5744-5756.
-
[40] Ozdemir, B.; Kulakci, M.; Turan, R.; Unalan, H. E. Nanotechnology 2011, 22, 155606 (7pp).
-
[41] Li, H. F.; Jia, R.; Chen, C.; Xing, Z.; Ding, W. C.; Meng, Y. L.; Wu, D. Q.; Liu, X. Y.; Ye, T. C. Appl. Phys. Lett. 2011, 98, 151116.
-
[43] Damon-Lacoste, J.; Labrune, M.; Granata, S.; Daineka, D.; Roca i Cabarrocas, P. in Photovoltaic Specialists Conference (PVSC) 35th IEEE 2010, 001352-001357.
-
[44] Kempa, T. J.; Cahoon, J. F.; Kim, S.-K.; Day, R. W.; Bell, D. C.; Park, H.-G.; Lieber, C. M. Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. 2012, 109, 1409−1412.
-
[45] Solanki, C. S. PHI Leaning Private Ltd.: New Delhi 2009.
-
[46] Veschetti, Y.; Muller, J. C.; Damon-Lacoste, J.; Roca i Cabarrocas, P.; Gudovskikh, A. S.; Kleider, J. P.; Ribeyron, P. J.; Rolland, E. in Photovoltaic Specialists Conference 31th IEEE 2005, 1131-1134.
-
[47] Sark, W. G. J. H. M. van; Korte, L.; Roca, F. Springer Verlag: Heidelberg, Germany 2011, 180-181.
-
Chapter 3
-
[1] Walter, M. G.; Warren, E. L.; McKone, J. R.; Boettcher, S. W.; Mi, Q.; Santori, E. A.; Lewis, N. S. Chem. Rev. 2010, 110, 6446-6473.
-
[2] Hu, S.; Xiang, C.; Haussener, S.; Berger, A. D.; Lewis, N. S. Energy Environ. Sci. 2013, 6, 2984-2993.
-
[3] McKone, J. R.; Lewis, N. S.; Gray, H. B. Chem. Mater. 2014, 26, 407-414.
-
[5] Chen, Y. W.; Prange, J. D.; Dühnen, S.; Park, Y.; Gunji, M.; Chidsey, C. E. D.; McIntyre, P. C. Nat. Mater. 2011, 10, 539-544.
-
[6] Seger, B.; Pedersen, T.; Laursen, A. B.; Vesborg, P. C. K.; Hansen, O.; Chorkendorff, I. J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 1057-1064.
-
[8] Seger, B.; Tilley, D. S.; Pedersen, T.; Vesborg, P. C. K.; Hansen, O.; Gratzel, M.; Chorkendorff, I. RSC Adv. 2013, 3, 25902-25907.
-
[9] Choi, M. J.; Jung, J.-Y.; Park, M.-J.; Song, J.-W.; Lee, J.-H.; Bang, J. H. J. Mater. Chem. A 2014, 2, 2928-2933.
-
[10] Hu, S.; Shaner, M. R.; Beardslee1, J. A.; Lichterman, M.; Brunschwig, B. S.; Lewis, N. S. Science 2014, 344, 1005-1009.
-
[11] Lin, Y.; Battaglia, C.; Boccard, M.; Hettick, M.; Yu, Z.; Ballif, C.; Ager, J. W.; Javey, A. Nano Lett. 2013, 13, 5615-5618.
-
[12] Boettcher, S. W.; Warren, E. L.; Putnam, M. C.; Santori, E. A.; Turner-Evans, D.; Kelzenberg, M. D.; Walter, M. G.; McKone, J. R.; Brunschwig, B. S.; Atwater, H. A.; Lewis, N. S. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 1216-1219.
-
[13] Cox, C. R.; Winkler, M. T.; Pijpers, J. J. H.; Buonassisi, T.; Nocera, D. G. Energy Environ. Sci. 2013, 6, 532-538..
-
[14] Pijpers, J. J. H., Winkler, M. T., Surendranath, Y., Buonassisi, T. & Nocera, D. G. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2011, 108, 10056-10061.
-
[15] Yang, J.; Walczak, K.; Anzenberg, E.; Toma, F. M.; Yuan, G.; Beeman, J.; Schwartzberg, A.; Lin, Y.; Hettick, M.; Javey, A.; Ager, J. W.; Yano, J.; Frei, H.; Sharp, I. D. J. Am. Chem. Soc. 2014, 136, 6191-6194.
-
[17] Terlinden, N. M.; Dingemans, G.; van de Sanden, M. C. M.; Kessels, W. M. M. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 112101-112101-3.
-
[18] Sawada, T.; Terada, N.; Tsuge, S.; Baba, T.; Takahama, T.; Wakisaka, K.; Tsuda, S.; Nakano, S. In Proceedings of 24th IEEE Photovoltaics Specialists Conference, Waikoloa, HI, USA, 5-9 December, 1994, 2, 1219-1226.
-
[20] Yablonovitch, E.; Gmitter, T.; Swanson, R. M.; Kwark, Y. H. Appl. Phys. Lett. 1985, 47, 1211-1213.
-
[22] Panasonic Corp. 2014, http://panasonic.co.jp/corp/news/official.data/data.dir/2014/04/en140410-4/en140410-4.html.
-
[23] Hwang, Y. J.; Boukai, A.; Yang, P. Nano Lett. 2008, 9, 410-415.
-
[24] Oh, I.; Kye, J.; Hwang, S. Nano Lett. 2011, 12, 298-302.
-
[27] Sun, K.; Park, N.; Sun, Z.; Zhou, J.; Wang, J.; Pang, X.; Shen, S.; Noh, S. Y.; Jing, Y.; Jin, S.; Yu, P. K. L.; Wang, D. Energy Environ. Sci. 2012, 5, 7872-7877.
-
[30] McCrory, C. C. L.; Jung, S.; Peters, J. C.; Jaramillo, T. F. J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 16977-16987.
-
[31] Chen, Z.; Jaramillo, T. F.; Deutsch, T. G.; Kleiman-Shwarsctein, A.; Forman, A. J.; Gaillard, N.; Garland, R.; Takanabe, K.; Heske, C.; Sunkara, M.; McFarland, E. W.; Domen, K.; Miller, E. L.; Turner, J. A.; Dinh, H. N. J. Mater. Res. 2010, 25, 3-16.
-
[35] Yagi, M.; Tomita, E.; Sakita, S.; Kuwabara, T.; Nagai, K. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 21489-21491.
-
[36] Ouattara, L.; Diaco, T.; Duo, I.; Panizza, M.; Foti, G.; Comninellis, C. J. Electrochem. Soc. 2003, 150, D41-D45.
-
[38] Peng, K.-Q.; Wang, X.; Wu, X.-L.; Lee, S.-T. Nano Lett. 2009, 9, 3704-3709.
-
[39] Somik, M.; Balavinayagam, R.; Lauren, G.; Steven, H.; Gary, A. B.; Phil, F.; Shramik, S.; Shubhra, G. Nanotechnology 2012, 23, 485405.
-
[40] Lombardi, I.; Marchionna, S.; Zangari, G.; Pizzini, S. Langmuir 2007, 23, 12413-12420.
-
[41] Warren, E. L.; Boettcher, S. W.; Walter, M. G.; Atwater, H. A.; Lewis, N. S. J. Phys. Chem. C 2010, 115, 594-598.
-
[42] Folcher, G.; Cachet, H.; Froment, M.; Bruneaux, J. Thin Solid Films 1997, 301, 242-248.
-
[43] Esposito, D. V.; Levin, I.; Moffat, T. P.; Talin, A. A. Nat. Mater. 2013, 12, 562-568.
-
Chapter 4
-
[1] Hettick, M.; Zheng, M.; Lin, Y.; Sutter-Fella, C. M.; Ager, J. W.; Javey, A. J. Phys. Chem. Lett. 2015, 6, 2177-2182.
-
[4] Haruhisa, S.; Ken-ichi, I.; Chiyuki, K.; Yasuharu, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1979, 18, 2329-2330.
-
[5] Wallentin, J.; Anttu, N.; Asoli, D.; Huffman, M.; Åberg, I.; Magnusson, M. H.; Siefer, G.; Fuss-Kailuweit, P.; Dimroth, F.; Witzigmann, B.; Xu, H. Q.; Samuelson, L.; Deppert, K.; Borgström, M. T. Science 2013, 339, 1057-1060.
-
[7] Kapadia, R.; Yu, Z.; Wang, H.-H. H.; Zheng, M.; Battaglia, C.; Hettick, M.; Kiriya, D.; Takei, K.; Lobaccaro, P.; Beeman, J. W.; Ager, J. W.; Maboudian, R.; Chrzan, D. C.; Javey, A. A Sci. Rep. 2013, 3, 2275.
-
[8] Zheng, M.; Wang, H. P.; Sutter-Fella, C. M.; Battaglia, C.; Aloni, S.; Wang, X.; Moore, J.; Beeman, J. W.; Hettick, M.; Amani, M.; Hsu, W. T.; Ager, J. W.; Bermel, P.; Lundstrom, M.; He, J. H.; Javey, A., T Adv. Energy Mater. 2015, 5, 1501337.
-
[9] Yin, X.; Battaglia, C.; Lin, Y.; Chen, K.; Hettick, M.; Zheng, M.; Chen, C. Y.; Kiriya, D.; Javey, A. ACS Photonics 2014, 1, 1245-1250.
-
[10] Thompson, K.; Booske, J. H.; Larson, D. J.; Kelly, T. F. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 052108.
-
[11] Thompson, K.; Bunton, J. H.; Kelly, T. F.; Larson, D. J. J. Vac. Sci. Technol. B 2006, 24, 421-427.
-
[12] Johnson, N. M.; Biegelsen, D. K.; Moyer, M. D. Appl. Phys. Lett. 1982, 40, 882-884.
-
[17] Chevallier, J.; Jalil, A.; Theys, B.; Pesant, J. C.; Aucouturier, M.; Rose, B.; Mircea, A. Semicond. Sci. Technol. 1989, 4, 87-90.
-
[18] Dautremont‐Smith, W. C.; Lopata, J.; Pearton, S. J.; Koszi, L. A.; Stavola, M.; Swaminathan, V. J. Appl. Phys. 1989, 66, 1993-1996.
-
[19] Chatterjee, B.; Ringel, S. A.; Sieg, R.; Hoffman, R.; Weinberg, I. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 58-60.
-
[20] McMurray Jr, R. E.; Haegel, N. M.; Kahn, J. M.; Haller, E. E. Solid State Commun. 1987, 61, 27-32.
-
[21] Tsai, M. J.; Fahrenbruch, A. L.; Bube, R. H. J. Appl. Phys. 1980, 51, 2696-2705.
-
[22] Temkin, H.; Dutt, B. V.; Bonner, W. A.; Keramidas, V. G. J. Appl. Phys. 1982, 53, 7526-7533.
-
[24] van Gurp, G. J.; van Dongen, T.; Fontijn, G. M.; Jacobs, J. M.; Tjaden, D. L. A., J. Appl. Phys. 1989, 65, 553-560.
-
[26] Grabmaier, J. G. Silicon. Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH, Berlin, Germany, 2013.
-
[27] Warren, C. W.; Li, J.; Wolden, C. A.; Meysing, D. M.; Barnes, T. M.; Miller, D. W.; Heath, J. T.; Lonergan, M. C. Appl. Phys. Lett. 2015, 106, 203903.
-
[28] Miller, D. W.; Warren, C. W.; Gunawan, O.; Gokmen, T.; Mitzi, D. B.; Cohen, J. D. Appl. Phys. Lett. 2012, 101, 142106.
-
[29] Boucher, J. W.; Miller, D. W.; Warren, C. W.; Cohen, J. D.; McCandless, B. E.; Heath, J. T.; Lonergan, M. C.; Boettcher, S. W. Energy Mater. Sol. Cells 2014, 129, 57-63.
-
[31] Montie, E. A.; van Gurp, G. J. J. Appl. Phys. 1989, 66, 5549-5553.
-
[32] Hsu, J. K.; Juang, C.; Lee, B. J.; Chi, G. C. J. Vac. Sci. Technol., B 1994, 12, 1416-1418.
-
[33] Banerjee, S.; Srivastava, A. K.; Arora, B. M. J. Appl. Phys. 1990, 68, 2324-2330.
-
[34] Swaminathan, V.; Donnelly, V. M.; Long, J. J. Appl. Phys. 1985, 58, 4565-4572.
-
[35] Mullin, J. B.; Royle, A.; Straughan, B. W.; Tufton, P. J.; Williams, E. W. J. Cryst. Growth 1972, 13, 640-646.
-
[36] Pearton, S. J.; Corbett, J. W.; Shi, T. S. Appl. Phys. A 1987, 43, 153-195.
-
[38] Chen, J.; Sekiguchi, T.; Yang, D.; Yin, F.; Kido, K.; Tsurekawa, S. J. Appl. Phys. 2004, 96, 5490-5495.
-
[39] Heitjans, P.; Kr̃ger, J. Diffusion in Condensed Matter: Methods, Materials, Models. Springer, Berlin, Germany, 2005.
-
[40] Virtuani, A.; Lotter, E.; Powalla, M.; Rau, U.; Werner, J. H.; Acciarri, M. J. Appl. Phys. 2006, 99, 014906.
-
[41] Thibault, J.; Rouviere, J.-L.; Bourret, A. Grain Boundaries in Semiconductors, In Handbook of Semiconductor Technology, Wiley-VCH Verlag GmbH, Germany, 2008, 377-451.
-
Chapter 5
-
[1] Zheng, M.; Wang, H. P.; Sutter-Fella, C. M.; Battaglia, C.; Aloni, S.; Wang, X.; Moore, J.; Beeman, J. W.; Hettick, M.; Amani, M.; Hsu, W. T.; Ager, J. W.; Bermel, P.; Lundstrom, M.; He, J. H.; Javey, A., T Adv. Energy Mater. 2015, 5, 1501337.
-
[3] Madelung, O.; Von der Osten, W.; Rössler, U., Intrinsic Properties of Group IV Elements and III-V, II-VI and I-VII Compounds Springer Science & Business Media: 1986, 22.
-
[4] Bimberg, D.; Kirstaedter, N.; Ledentsov, N. N.; Alferov, Z. I.; Kop'ev, P. S.; Ustinov, V. M. IEEE J. Sel. Top. Quant. Electron. 1997, 3 196-205.
-
[7] Yoon, J.; Jo, S.; Chun, I. S.; Jung, I.; Kim, H.-S.; Meitl, M.; Menard, E.; Li, X.; Coleman, J. J.; Paik, U.; Rogers, J. A. Nature 2010, 465, 329-333.
-
[9] Goldstein, L.; Glas, F.; Marzin, J. Y.; Charasse, M. N.; Le Roux, G. Appl. Phys. Lett. 1985, 47,1099-1101.
-
[10] Kurtz, S. R.; Allerman, A. A.; Jones, E. D.; Gee, J. M.; Banas, J. J.; Hammons, B. E. Appl. Phys. Lett. 999, 74, 729-731.
-
[11] Amano, H.; Sawaki, N.; Akasaki, I.; Toyoda, Y. Appl. Phys. Lett. 986, 48, 353-355.
-
[12] Henoc, P.; Izrael, A.; Quillec, M.; Launois, H. Appl. Phys. Lett. 1982, 40, 963-965.
-
[13] Dijkkamp, D.; Venkatesan, T.; Wu, X. D.; Shaheen, S. A.; Jisrawi, N.; Min‐Lee, Y. H.; McLean, W. L.; Croft, M. Appl. Phys. Lett. 1987, 51, 619-621.
-
[14] Kapadia, R.; Yu, Z.; Wang, H.-H. H.; Zheng, M.; Battaglia, C.; Hettick, M.; Kiriya, D.; Takei, K.; Lobaccaro, P.; Beeman, J. W.; Ager, J. W.; Maboudian, R.; Chrzan, D. C.; Javey, A. Sci Rep. 2013, 3, 2275.
-
[15] Kapadia, R.; Yu, Z.; Hettick, M.; Xu, J.; Zheng, M. S.; Chen, C.-Y.; Balan, A. D.; Chrzan, D. C.; Javey, A. Chem. Mater. 2014, 26, 1340-1344.
-
[16] Seiji, M.; Masatoshi, M.; Jun'ichi, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1980, 19, L505.
-
[18] van Weert, M. H. M.; Wunnicke, O.; Roest, A. L.; Eijkemans, T. J.; Yu Silov, A.; Haverkort, J. E. M.; ’t Hooft, G. W.; Bakkers, E. P. A. M. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 043109.
-
[19] Akiko, G.; Hitoshi, H.; Isao, H.; Seiji, K.; Kenichi, K.; Tohru, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1989, 28 , L1330.
-
[20] Bugajski, M.; Lewandowski, W. J. Appl. Phys. 1985, 57, 521-530.
-
[21] Wallentin, J.; Mergenthaler, K.; Ek, M.; Wallenberg, L. R.; Samuelson, L.; Deppert, K.; Pistol, M.-E.; Borgström, M. T. Nano Lett. 2011, 11, 2286-2290.
-
[22] Palankovski, V.; Kaiblinger-Grujin, G.; Selberherr, S. Mater. Sci. Eng. B 1999, 66, 46-49.
-
[23] Jones, K. S.; Prussin, S.; Weber, E. R. Appl. Phys. A 1998, 45, 1-34.
-
[24] Chen, S. K.; Majoros, M.; MacManus-Driscoll, J. L.; Glowacki, B. A. Physica C Supercond. 2005, 418 , 99-106.
-
[25] Yu, K. M.; Moll, A. J.; Walukiewicz, W. J. Appl. Phys. 1996, 80, 4907-4915.
-
[26] Perraud, S.; Poncet, S.; Noël, S.; Levis, M.; Faucherand, P.; Rouvière, E.; Thony, P.; Jaussaud, C.; Delsol, R. Sol. Energ. Mat. Sol. Cells 2009, 93, 1568-1571.
-
[27] Ruby, D. S.; Zaidi, S. H.; Narayanan, S.; Damiani, B. M.; Rohatgi, A. Sol. Energ. Mat. Sol. Cells 2002, 74, 133-137.
-
[28] Zhu, Z.-T.; Menard, E.; Hurley, K.; Nuzzo, R. G.; Rogers, J. A. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 133507.
-
[32] Sieg, R. M.; Ringel, S. A. J. Appl. Phys. 1996, 80, 448-458.
-
[33] Williams, E. W.; Elder, W.; Astles, M. G.; Webb, M.; Mullin, J. B.; Straughan, B.; Tufton, P. J. J. Electrochem. Soc. 1973, 120, 1741-1749.
-
[35] Hettick, M.; Zheng, M.; Lin, Y.; Sutter-Fella, C. M.; Ager, J. W.; Javey, A. The J. Phys. Chem. Lett. 2015, 6, 2177-2182.
-
[36] Röder, O.; Heim, U.; Pilkuhn, M. H. J. Phys. D: Appl. Phys. Solids 1970, 31, 2625-2634.
-
[37] Haufe, A.; Schwabe, R.; Feiseler, H.; Ilegems, M. J Phys C Solid State Phys 1988, 21, 2951.
-
[38] Morkoç, H., Extended and Point Defects, Doping, and Magnetism. In Handbook of Nitride Semiconductors and Devices, Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA: 2009; 817-1229.
-
[41] Rosenwaks, Y.; Shapira, Y.; Huppert, D. Phys. Rev. B 1992, 45, 9108-9119.
|