Title

自組裝碳八十四分子嵌入矽基板的光電特性量測

Translated Titles

Measurement of Optoelectronical Properties of the Self-assembly C84 Molecules Embedded Si(111) Surface

DOI

10.6845/NCHU.2011.01391

Authors

徐巧芳

Key Words

富勒烯 ; 碳八十四 ; 碳化矽 ; 光致激發光 ; 掃描探針顯微鏡 ; fullerene ; C84 ; SiC ; PL ; STM

PublicationName

中興大學物理學系所學位論文

Volume or Term/Year and Month of Publication

2011年

Academic Degree Category

碩士

Advisor

何孟書

Content Language

繁體中文

Chinese Abstract

本研究在超高真空腔體下,控制自組裝機制製造單層C84分子嵌入矽(111)表面之基板。利用超高真空掃描探針顯微術觀察單顆C84分子、單層C84分子及多層C84分子嵌入矽(111)表面之表面形貌,及量測其電流-電壓曲線,計算其能隙大小。利用光致激發光光譜儀,在300K及18K下分析此基板的光電特性。因量子侷限效應,此自組裝C84分子嵌入矽(111)表面之基板,具有寬能隙及發射藍紫光的特性。有效控制C84分子嵌入矽(111)表面的自組裝機制,使其能被應用在高溫、高頻、高功率的半導體光電元件上。

Topic Category 基礎與應用科學 > 物理
理學院 > 物理學系所
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