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晶圓不良品重測探針卡頭配置之成本與時間分析–以K公司為例
Cost and time analysis of probe card configuration during fail die re-probing The Case Study of K Company
黃武德
指導教授 :
蘇哲平
國立清華大學/工學院/工業工程與工程管理學系碩士在職專班/碩士(2012年)
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Cost
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Reprobing
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延伸閱讀
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