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  • 學位論文

以第一原理分子動力學計算矽塊材與矽量子點之熔化溫度

The melting temperature calculation of silicon bulk and silicon quantum dots by ab-initio molecular dynamics simulation

指導教授 : 潘欽 謝宏明

摘要


本研究總共分為兩部分,第一部分對矽塊材的熔點進行模擬及分析;第二部分模擬矽量子點(Si71H108)在高溫下的狀態,並就觀察到的結果進行分析與討論。 第一部分,利用密度泛函理論,以分子動力學方法模擬塊材矽的熔化現象,計算結果顯示矽塊材的熔點落在1663K與1664K之間,與經驗值(1687K)誤差約有1.36%~1.42%。 第二部分,同樣地利用密度泛函理論,以分子動力學方法模擬矽量子點(Si71H108)在高溫下的狀態,結果顯示溫度在1700K~1800K之間,矽量子點外圍所包覆之氫原子開始形成氫分子(H2)而脫離矽量子點叢集,隨後亦有矽烷( silane,化學式:SiH4 )開始與矽量子點叢集分離。在1900K除了有氫分子、矽烷分子脫離出來,甚至還有乙矽烷(Si2H6)脫離。對於矽量子點沒有觀察到固體與液體相變化的存在,因為在高溫下,矽量子點會以氫分子、矽烷分子或是乙矽烷分子的型態從表面解離。

被引用紀錄


李承澤(2011)。藉由第一原理分析CoSi(核)/SiO2(殼)、 CrSi2(核)/SiO2(殼) 和FeSi(核)/SiO2(殼)奈米電纜異常的鐵磁性質〔碩士論文,國立清華大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6843/NTHU.2011.00314
韓侑宏(2010)。藉由第一原理分析CrSi2(核)/SiO2(殼)奈米電纜異常的鐵磁性質與氧化鎳薄膜成長研究〔碩士論文,國立清華大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0016-1901201111403385

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