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IP:3.137.171.121

摘要


本研究將針對12吋晶圓(Wafer)進行模態測試(Model test),取得模擬測試值,藉此與單一晶圓的有限元素分析(Finite element analysis)結果作比對驗證,目的在於修正分析模型中晶圓之楊氏係數與密度,建立一個有效代表實際結構之等效分析模型(Effective analytical model),使晶圓模型能夠趨於接近實際晶圓的實驗數值。另外一方面也針對單一晶圓置入晶圓承載盒(Wafer Front Shipping Opening Box,FOSB)內其拘束情況下作模態測試,再與有限元素分析結果作比對驗證,藉以瞭解單一晶圓與FOSB結構之動態特性,作為FOSB後續防振設計改善之參考依據。

延伸閱讀