專利引證與維護分析模型之建構

The Distribution of Patent Citation and Maintenance

許峻銘(Hsu Chun-Ming)

指導教授 ： 賴子珍

元智大學/管理學院/國際企業學系/碩士(2004年)

摘要

隨著智慧財產權意識的抬頭，近年來專利對企業的重要程度與日俱增，無論是用專利作為商業攻擊的武器亦或是作為防禦侵權的利器，都是企業維持競爭力的重要因素之一，過去簡單的專利統計數目分析已經無法滿足企業瞭解快速變化的市場資訊。因此本研究利用專利基本資料、相互引證關係與專利法律保護狀態等資訊建立一套幫助企業評斷專利價值的模型，提供決策單位作為擬定研發、經營策略之重要參考依據。
專利可以反應創新的即時性、可靠性、公開性與客觀性的優點，因此許多研究均以專利指標用來檢視企業研發策略，以及衡量企業研發績效的工具（Ernst, 1995；Rivette, 2000）。專利資料一方面可以用來衡量企業創新所累積的專業知識或技術價值，解決企業所擁有的無形資產無法量化及衡量的困難；另一方面因為專利資訊的公開、即時及客觀等特性，所以適合用來研究企業在研發上的活動，了解企業在市場上所佔有的技術地位與擁有的技術價值。
過去許多專利分析（Patent Analysis）的研究發現，專利的引證（Citation）與技術的重要性有顯著的相關性；Albert et al.（1991）在研究中發現，技術價值較高的專利，在其所在的產業內通常是被高度引證的專利。因此專利的引證常被用來檢驗技術的價值與影響力，作為評價技術的指標之一。
本研究利用專利文件中的被引證資料（Cited）解析專利從申請核准開始到的法定生命週期期滿的引證分佈情況，並結合專利的法律保護狀態（Legal Status）與可能影響專利引證的相關指標建構出專利資訊（Patent Information）對專利被引證次數（Patent Cited）影響之模型與專利被引證累積次數（Patent Accumulated Cited）對維護狀態（Maintenance）影響之模型，藉由此二模型衡量專利所內含的技術價值，並對企業的無形資產或創新技術提供一個客觀的評價準則。

關鍵字

專利 ； 專利引證 ； 法律保護狀態 ； 被引證落差時間 ； 專利引證分析

並列摘要

無資料

並列關鍵字

Patent ； Patent Citation ； Legal Status ； Cited lag ； Patent Citation Analysis

參考文獻

1. Adam B. Jaffe, Manuel Trajtenberg & Michael S. Fogarty, “Knowledge Spillovers and Patent Citations：Evidence form a Survey of Inventors”, Industrial Technology and Productivity, May 2000, Vol.90, No.2

2. Adam B. Jaffe, Manuel Trajtenberg & Rebecca Henderson, “Geographic Localization of Knowledge Spillover as Evidence by Patent Citation”, Quarterly Journal of Economics, August 1993, Vo.108, Issue 3, 577-598

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