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A Novel Method of X-Ray Diffraction to Analyze Paritally Nitrided Titanium Pellet
以新X光繞射法分析部份氮化反應之金屬鈦顆粒
摘要
本文提出一個新的X光繞射分析方法。利用此一新的分析技巧，我們可以對部分氮化反應的金屬鈦顆粒做不同位置之成份組成分析，藉由此一定量分析方法，即可判斷金屬鈦顆粒氮化反應在不同反應條件下之反應模式。
關鍵字
無資料並列摘要
The purpose of this paper is to introduce a new X-ray diffraction (XRD) method. Using this new analysis method, the component of partially nitrided titanium pellet for different positions in the direction of pellet thickness can be determined and the reaction model for the nitridation of titanium pellet can be predicted.
延伸閱讀
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