摘要
為了瞭解產品的可靠度指標，必須在產品中抽取一定數量的試件，進行壽限試驗，在試驗過程中記錄試件之失效時間，對失效數據進行統計分析，就可以得到產品可靠度指標之估計值。然而隨著科技的發展，產品品質愈來愈好，壽限愈來愈長，甚至可達數百萬小時，即使進行數年的試驗，也沒有出現失效，或者只有一、二個失效。因此把試件置於嚴酷環境下試驗，在不改變失效機構條件下，期能在短時問內，獲得較多的失效試件，加速壽限試驗就是在這種需要情況下產生的。本論文係假設產品之壽限函數屬指數分配(Exponential Distribution)，加速環境因子為溫度，加速壽限試驗模為Arrhenius Model，如何利用迴歸分析法求出各項試驗參數值，並據以估計產品在正常環境使用下之壽限。
關鍵字
無資料參考文獻
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延伸閱讀
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