透過您的圖書館登入
IP:13.58.82.79
登入
登出
透過您的圖書館登入
透過您的圖書館登入
登入
登出
出版品瀏覽
幫助
授權華藝
IP:13.58.82.79
繁體中文
English
简体中文
精確檢索 : 冠狀病毒
模糊檢索 : 冠狀病毒
冠狀病毒感染
冠狀病毒疾病
查詢出版品: 冠狀病毒
進階查詢
查詢歷史
主題瀏覽
【下載完整報告】AI熱潮從學術研究也能看出端倪?哪些議題是2023熱搜議題?
期刊
製造缺陷引發積體電路可靠度失效實例探討
Case Study for IC Reliability Failure Caused by Manufacturing Defects
郝中蓬(Chung-Peng Hao)
《品質月刊》
50卷10期
(2014/10)
Pp. 24-28
引用
分享
收藏
全文下載
延伸閱讀
劉明偉(2009)。
電子連接器之失效分析與可靠度評估
〔碩士論文,國立臺灣大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6342/NTU.2009.03173
許芳勳、彭鴻霖、廖德銘(2021)。
從失效的本質來談產品可靠度的實現
。
品質月刊
,
57
(7),14-20。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=10173692-202107-202108190012-202108190012-14-20
邱承頎(2023)。
缺陷影像擴增對半導體封裝檢驗卷積神經網路模型之績效評估
〔碩士論文,中原大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6840/cycu202301127
Chang, Y. C., & Hung, W. L. (2012).
A Novel Approach to Reducing Defects in Manufacturing Processes
.
智慧科技與應用統計學報
,
10
(1), 17-29. https://doi.org/10.29807/JTITAS.201206.0002
饒旻和(2009)。
Distribution System Reliability Evaluation Considering Regional and Customer-Type Variations
〔碩士論文,中原大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6840/cycu200901230
國際替代計量
製造缺陷引發積體電路可靠度失效實例探討
篇名與作者
延伸閱讀
國際替代計量
全文下載
本網站使用Cookies
為了持續優化網站功能與使用者體驗,本網站將Cookies分析技術用於網站營運、分析和個人化服務之目的。
若您繼續瀏覽本網站,即表示您同意本網站使用Cookies。
我知道了
隱私權聲明