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車用電子半導體元件失效率預估技術研討會紀實
彭鴻霖(Perng, Horng-Linn)
;
彭吉淳(Perng, Ji-Chun)
;
丁立安(Ding, Li-An)
《品質月刊》
55卷10期
(2019/10)
Pp. 38-45
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陳維宗(2010)。
半導體之製程缺陷改善之研究
〔碩士論文,中原大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6840/cycu201000985
蔡溢峰(2011)。
半導體製程之缺陷分析與改善
〔碩士論文,中原大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6840/cycu201100211
許桂綾(2012)。
失效模式與效應分析於機車零組件之研究
〔碩士論文,國立虎尾科技大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0028-1307201216353800
林巨慕(2006)。
高科技半導體產業營業中斷危險分析及其保險規劃之研究
〔碩士論文,淡江大學〕。華藝線上圖書館。https://doi.org/10.6846/TKU.2006.00553
張耀文(2014)。
應用失效模式與效應分析建構製程品質改善系統--以半導體產業為例
〔碩士論文,國立清華大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0016-2912201413520739
國際替代計量
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