RFID發展現況：以專利分析角度探討

Using Patent Analysis to Explore the Developement of Radio Frequency Identification

林明杰(Ming-Ji James Lin) ； 張敬珣(Ching-Hsun Chang)

《科技管理學刊》 15卷1期 (2010/03) Pp. 23-48

https://doi.org/10.6378/JTM.201003.0023

摘要

本研究以專利分析方法，探討無線射頻辨識(RFID)技術之研發現況。本研究專利指標包括專利數目比較分析、引證數分析、專利分類號分析以及技術生命週期分析等，分析內容包括國家層次、廠商層次與技術層次，並以美國專利商標局專利資料庫進行相關無線射頻辨識(RFID)檢索。在國家層次專利產出分析方面，美國表現最為優異，在廠商層次的表現則以Micron Technology公司取得最多專利件數為最佳，而技術層次主要著重在UPC技術領域340/572/001。研究結果將提供台灣RFID廠商與政府做為RFID研發創新的參考。

關鍵字

RFID ； 專利分析 ； 專利地圖 ； 研發管理

並列摘要

This study used patent analysis to explore the technological developments of Radio Frequency Identification (RFID). This study did not only discuss the technological developments of RFID, but also compared the competition among countries and companies. The patent data of this study were obtained from United States Patent and Trademark Office (USPTO). Major results are analyzed by using patent indicators. The results of this study indicated America has the competitive advantages of RFID in the country level, while Micron Technology has the competitive advantages of RFID in the company level. Moreover, the patents of RFID were concentrated on the UPC-340/572/001. The results in this study provided a valuable reference for RFID companies and governments.

並列關鍵字

RFID ； Patent Analysis ； Patent Map ； Management of R&D

參考文獻

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