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期刊
Test Generation Algorithm for Fault Detection of Analog Circuits Based on Extreme Learning Machine
Jingyu Zhou
;
Shulin Tian
;
Chenglin Yang
;
Xuelong Ren
《Computational Intelligence and Neuroscience》
2014期
(2014/12)
Pp. 506-516
https://doi.org/10.1155/2014/740838
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延伸閱讀
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