B+ → K+ π0 和 B+ → π+ π0 之二體稀有衰變與電荷宇稱破壞之量測

Measurements of Branching Fractions and Direct CP Asymmetries for B+ → K+ π0 and B+ → π+ π0 Decays at Belle II

李清化(Ching-Hua Li)

指導教授 ： 張寶棣

國立臺灣大學/理學院/物理學研究所/碩士(2021年)

https://doi.org/10.6342/NTU202100873

摘要

我們報告了帶電B介子二體衰變的分支分數與電荷宇稱破壞，包括了 B+ → K+ π0, π+ π0 衰變和它們的反粒子在Belle II實驗的測量結果。我們分析了從2019到2020，在 Υ(4S) 共振態下積分亮度共62.8反飛靶的正負電子對撞數據。
衰變分枝的測量結果為：B(B+ → K+ π0) = [11.9 +1.1 -1.0 (stat) ± 1.6(syst)] X 10^-6 以及 B(B+ → π+ π0) = [5.5 +1.0 -0.9 (stat) ± 0.7(syst)] X 10^-6。
宇稱破壞的測量結果為：ACP(B+ → K+ π0) = -0.089 ± 0.085 (stat) ± 0.025(syst) 以及 ACP(B+ → π+ π0) = -0.042 ± 0.166 (stat) ± 0.062(syst)，第一項誤差為統計誤差、第二項為系統誤差。 這次的測量結果與世界的平均值一致，而且在早期顯示出良好的探測器性能。

關鍵字

Belle II實驗 ； B介子 ； B衰變 ； 分支分數 ； 宇稱破壞

並列摘要

We report on measurements of branching fractions (B) and direct CP asymmetries (ACP) for the decays, B+ → K+ π0, π+ π0 with a sample collected in 2019 and 2020 at the Υ(4S) resonance, corresponding to 62.8 fb^-1 of integrated luminosity. In this study, we use two dimensional Mbc X ΔE fitting to determine the signal yields. We obtain the following branching fractions B(B+ → K+ π0) = [11.9 +1.1 -1.0 (stat) ± 1.6(syst)] X 10-6 and B(B+ → π+ π0) = [5.5 +1.0 -0.9 (stat) ± 0.7(syst)] X 10^-6. The direct CP asymmetries are measured to be ACP(B+ → K+ π0) = -0.089 ± 0.085 (stat) ± 0.025(syst) and ACP(B+ → π+ π0) = -0.042 ± 0.166 (stat) ± 0.062(syst), where the first uncertainty is statistical uncertainty an the second is the systematic uncertainty. The results agree with world average and show a good detector performance in early stage.

並列關鍵字

Belle II ； B meson ； B decay ； Branching fraction ； CP violation

參考文獻

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