- 學位論文
以類神經網路建構半導體晶圓良率學習模型
Modelling the Yield Learning Process of a Semiconductor Product with an ANN
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延伸閱讀
- Wu, J. R. (2019). 基於卷積神經網路實現半導體微影成像模擬之主動式學習分析 [master's thesis, National Tsing Hua University]. Airiti Library. https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0016-0206202016133563
- Chen, W. C., Chen, C. T., Tsai, C. H., & Ho, T. H. (2006). 類神經網路應用於半導體蝕刻製程終點圖形之辨識. 工業工程學刊, 23(4), 269-279. https://doi.org/10.29977/JCIIE.200607.0001
- 楊子林（2007）。類神經網路應用於晶圓針測製程之良率預測- 以IC設計產業為例〔碩士論文，元智大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0009-2307200710521500
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- 姜泰全（2016）。An Investigation of Semiconductor Process Quality Control Strategy for O Company〔碩士論文，國立清華大學〕。華藝線上圖書館。https://www.airitilibrary.com/Article/Detail?DocID=U0016-0411201614430124