半導體主動元件非線性特性參數萃取之量測自動化

Measurement Automation of Nonlinear Parameter extraction for Semiconductor Active Devices

楊學宗(Hsueh-Tsung Yang)

指導教授 ： 黃建彰博士

元智大學/工程學院/通訊工程學系/碩士(2005年)

摘要

中 文 摘 要

基於主動元件非線性效應對通訊系統影響越來越深，Volterra級數分析所需之非線性參數萃取日益重要，本研究主要目的是提升萃取量測之效率，增加測試的穩定性、精確性與時效性。
本論文大體上可分為3部分，第一部分為簡介Volterra級數 的基礎理論與應用。第二部分為，自動化系統架構，以及將系統中的方塊功能，一一將之設計、繪圖、執行、測試與實現。第三部分為，軟體平台的選擇，流程方塊的設計，再來是軟體的撰寫與軟體的偵錯，最後的重頭戲，是將硬體、軟體整合一起執行與操作，以擷取資料。以此數據資料，再來驗證，此整體硬體架構與軟體程式是否可行。

關鍵字

半導體主動元件非線性特性 ； 量測自動化

並列摘要

ABSTRACT

Due to the increasing influences of the active device nonlinearities on the communication performances, the Volterra series analyses become more important. This study focuses on the nonlinear parameter extractions through the measurement automation to improve the efficiency, stability and accuracy.
This thesis is divided into three parts – the first is about some background of the Volterra series for its theoretical basis and applications. The second part describes the system architecture of the automatic measurements including the designs, implementations, and tests for each block. The software platform of the automatic measurements is given in the third part with the flowchart descriptions and some coding/testing details. The final is the integration for the hardware/software systems, and tested for a pHEMT device to validate the proposed automatic nonlinear parameter extraction system.

並列關鍵字

Semiconductor Active Devices ； Measurement Automation of Nonlinear Parameter

參考文獻

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