在韓國、台灣、日本三強競爭的液晶平面顯示器市場中,隨著基板尺寸增加,彩色濾光片在製程中立即面臨顏料光阻塗佈均勻性的困難、大面積高速塗佈技術障礙及色彩飽和度等問題;再加上基板尺寸放大後,導致各設備生產製程參數複雜,使得生產良率不易提高,因此提高彩色濾光片品質為各家廠商所面臨的問題。 彩色濾光片製造過程中,玻璃基板需至少經過五次的洗淨、光阻塗佈、預烘烤、曝光、顯影及後烘烤的黃光製程,在顯影製程(Development Process)中最重要的是確保所設計的光阻圖案能精準的留下,並控制CD (Critical Dimension)值的均勻度能夠達到最佳的效果。 針對顯影製程的問題,本研究將針對彩色濾光片黑色矩陣(Black Matrix, BM)製程中,開口CD值之均勻度(Uniformity)作為研究個案,以田口方法進行實驗,經實際操作顯影機台並透過特性要因分析法,分析出可能影響開口CD值的控制參數,作為影響的主要因子,接著利用田口所發展的參數設計方法,以開口CD值之均勻度作為品質特性,選擇以L18為主體的實驗配置架構,配合內外直交表的配置,利用望小特性和信號雜音比進行資料分析,找出最佳的設備控制參數組合,最後利用此條件進行實驗確認,並依據SN比、 與R管制圖、Cp及Cpk數據分析來驗證出本實驗結果。 本研究結果顯示,此分析方法可獲得較佳的生產條件,利用此條件開口CD值有較佳的均勻度、Cp及Cpk值,對於提昇彩色濾光片的生產良率有很大的助益。