- 學位論文
使用特徵樣式運行長度編碼之測試資料壓縮法
Featured Pattern Run-Length Coding for Test Data Compression
摘要
隨著半導體製程的進步，現今系統晶片容納的電晶體數量也越來越來，也因此電路中需要被偵測出來的故障點數目也因此上升，為了要偵測出這些故障點，大量的測試資料也因此增加，結果造成測試資料儲存的問題。本篇論文的目的，在於設計一套編碼壓縮的方法，有效地解決當前測試資料量過大的問題，而同時改進編碼壓縮的壓縮效果。 我們根據已被發表的文獻內，發覺一篇名為合併相容區塊編碼的壓縮方法存在改良的空間。先前的方法，只計算連續相容區塊數量，然後根據相容區塊數量進行編碼壓縮，然而，我們發覺這些相容區塊內，部分相容區塊皆有共同的特徵，也因此在本篇方法，將這些合併區塊的特徵做分群，每組分群都有各自的編碼規則，根據這些特徵編碼後的壓縮，其效果更能達到提高資料壓縮的目的。另外，我們在既有的方法內，再加入三個編碼方法做為改良，這些加入的編碼規則都能提高測試資料的壓縮率。第一個改良方法為觀察到在特徵合併區塊，不同的特徵類別出現的頻率不一樣，依照統計出來的各組類別出現頻率，設計新的編碼規則能達到更好的壓縮效果。第二個改良方法為加入新的合併區塊特徵，在原先特徵合併區塊分群上，我們觀察到仍然存在其他特徵，將新的特徵加入原先特徵分群的架構，重新統計各組類別出現頻率再設計出新的編碼規則，結果顯示，加入新特徵的特徵分群能提高原本區塊特徵分群的壓縮率。第三個改良方法為，調整運行長度的編碼規則，原先的運行長度編碼仍有改善的空間，根據實驗的結果，調整後的編碼表確實能達到更好的壓縮效果。 本論文提出的利用合併區塊特徵分群做編碼的概念，根據實驗結果顯示，在ISCAS’89測試電路的壓縮效果，比先前發表的文獻壓縮率來的更好，我們提出的壓縮方法平均可達到67.69%的壓縮效果。與先前發表的合併相容區塊編碼相比，所提出的方法可以提高3.52%壓縮率。由此證明，在測試資料的編碼壓縮方法中，這個方法比其他相關方法來的有效。
並列摘要
Test data compression is necessary to reduce the volume of test data for system-on-a-chip design. In this thesis, we propose a code-based compression technique called featured pattern run-length coding. Featured pattern run-length coding is based on block merging compression technique (BM). We utilize slice types encoding to improve BM method. It is demonstrated that higher test data compression can be achieved based on slice types encoding. Furthermore, we provide three methods to improve our test data compression scheme. First, we alter the slice data encoding scheme. The slice type with higher occurrences is assigned shorted codeword. On the contrary, the slice type with few occurrences is assigned longer codeword. Second, we add two slice types into slice data encoding scheme to reduce test data. Third, we alter the pattern run-length encoding table to achieve higher compression ratio. Experimental results show that the average compression ratio is 67.69% in ISCAS’89 benchmark circuit. The average compression ratio in our proposed method is 3.52% greater than BM technique.